Summary

Piège optique Chargement de Dielectric Microparticules Dans Air

Published: February 05, 2017
doi:

Summary

A protocol for launching and stably trapping selected dielectric microparticles in air is presented.

Abstract

We demonstrate a method to trap a selected dielectric microparticle in air using radiation pressure from a single-beam gradient optical trap. Randomly scattered dielectric microparticles adhered to a glass substrate are momentarily detached using ultrasonic vibrations generated by a piezoelectric transducer (PZT). Then, the optical beam focused on a selected particle lifts it up to the optical trap while the vibrationally excited microparticles fall back to the substrate. A particle may be trapped at the nominal focus of the trapping beam or at a position above the focus (referred to here as the levitation position) where gravity provides the restoring force. After the measurement, the trapped particle can be placed at a desired position on the substrate in a controlled manner.

In this protocol, an experimental procedure for selective optical trap loading in air is outlined. First, the experimental setup is briefly introduced. Second, the design and fabrication of a PZT holder and a sample enclosure are illustrated in detail. The optical trap loading of a selected microparticle is then demonstrated with step-by-step instructions including sample preparation, launching into the trap, and use of electrostatic force to excite particle motion in the trap and measure charge. Finally, we present recorded particle trajectories of Brownian and ballistic motions of a trapped microparticle in air. These trajectories can be used to measure stiffness or to verify optical alignment through time domain and frequency domain analysis. Selective trap loading enables optical tweezers to track a particle and its changes over repeated trap loadings in a reversible manner, thereby enabling studies of particle-surface interaction.

Introduction

Ashkin a rapporté l'accélération et le piégeage des microparticules par la pression de radiation en 1970. 1 Son roman réalisation favorisé le développement des techniques de piégeage optique comme outil principal pour les études fondamentales de la physique et de la biophysique. 2, 3, 4, 5 A ce jour, l'application de piégeage optique a porté principalement sur les environnements liquides, et ont été utilisés pour étudier une très large gamme de systèmes, du comportement des colloïdes aux propriétés mécaniques de biomolécules simples. 6, 7, 8 Application de piégeage optique milieux gazeux, cependant, exige la résolution de plusieurs nouveaux problèmes techniques.

Récemment, le piégeage optique dans l'air / vide a été de plus en plus appliqué dans la recherche fondamentale. Depuis levi optiquestation fournit potentiellement l' isolement quasi-complet d'un système à partir de l'environnement, la particule optiquement sustentation devient un laboratoire idéal pour étudier les états du sol quantique dans les petits objets, 4 de mesure à haute fréquence des ondes gravitationnelles, 9 et la recherche de charge fractionnaire. 10 En outre, la faible viscosité de l' air / vide permet d'utiliser l' inertie pour mesurer la vitesse instantanée d'une particule brownienne 11 et pour créer un mouvement balistique sur une large gamme de mouvement au – delà du régime printanier linéaire. 12 Par conséquent, l' information et les pratiques de pièges optiques dans les milieux gazeux techniques sont devenus plus précieux pour la communauté de recherche plus large.

De nouvelles techniques expérimentales sont nécessaires pour charger nano / microparticules dans des pièges optiques dans les milieux gazeux. Un transducteur piézo-électrique (PZT), un dispositif qui convertit électric énergie en énergie mécano-acoustique, a été utilisé pour fournir de petites particules dans des pièges optiques dans l' air / vide 5, 12 depuis la première démonstration de lévitation optique. 1 Depuis lors, plusieurs techniques de chargement ont été proposées pour charger des particules plus petites en utilisant des aérosols volatils générés par un nébuliseur commercial 13 ou un générateur d'ondes acoustiques. 14 Les aérosols flottants avec des inclusions solides (particules) passent au hasard près du foyer et sont piégés par hasard. Une fois que l'aérosol est piégé, le solvant s'évapore et la particule reste dans le piège optique. Cependant, ces méthodes ne sont pas bien adaptés pour identifier les particules désirées à partir d'un échantillon, charger une particule sélectionnée et de suivre ses modifications si libéré du piège. Ce protocole est destiné à fournir des détails aux nouveaux praticiens sur sélectif piège chargement optique dans l'air, y compris l'expérienceconfiguration al, la fabrication d'un support de PZT et enceinte échantillon, piège chargement, et l'acquisition de données associée à l'analyse du mouvement des particules dans les deux domaines fréquentiel et temporel. Les protocoles de piégeage dans des milieux liquides ont également été publiés. 15, 16

Le dispositif expérimental global est développé sur un microscope optique inversé commercial. La figure 1 montre un schéma de la configuration utilisée pour démontrer les étapes du piège optique sélective chargement: libérer les microparticules de repos, en soulevant la particule choisie avec le faisceau focalisé, mesurant son mouvement, et en le plaçant sur le substrat à nouveau. objectif d'abord, les étapes de translation (transversales et verticales) sont utilisés pour apporter une microparticule choisie sur le substrat pour la mise au point d'un laser de piégeage (longueur d'onde de 1064 nm) focalisé par un objectif (proche infrarouge corrigées à long distance de travail: NA 0,4, grossissement 20X, d travailIstance 20 mm) à travers le substrat transparent. Puis, un lanceur piézo-électrique (une mécanique pré-chargée de type annulaire PZT) génère des vibrations ultrasoniques pour briser l'adhérence entre les microparticules et un substrat. Ainsi, toute particule libérée peut être levée par le faisceau unique piège laser gradient centré sur la particule sélectionnée. Une fois que la particule est piégée, elle se traduit par rapport au centre de l'enceinte d'échantillon contenant deux plaques conductrices parallèles pour l'excitation électrostatique. Enfin, un système d'acquisition de données (DAQ) enregistre simultanément le mouvement des particules, captée par un photodétecteur à cellules quadrant (DOU), et le champ électrique appliqué. Après avoir terminé la mesure, la particule est placée de manière contrôlable sur le substrat afin qu'il puisse être pris au piège à nouveau d'une manière réversible. Ce processus global peut être répété des centaines de fois sans perte de particules pour mesurer les changements tels que le contact électrification se produisant sur plusieurs cycles de piégeage. S'il vous plaît se référer à notre article récent fou des détails. 12

Protocol

Attention: S'il vous plaît consulter tous les programmes de sécurité applicables avant l'expérience. Toutes les procédures expérimentales décrites dans ce protocole sont effectuées en conformité avec le programme de sécurité LASER NIST ainsi que d'autres règlements applicables. S'il vous plaît assurez-vous de choisir et porter un équipement de protection individuelle (EPI) tels que des lunettes de protection laser conçus pour la longueur d'onde et de puissance spécifique. Manipulation…

Representative Results

Le lanceur de PZT est conçu en utilisant un logiciel de CAO. Ici, on utilise une structure de type sandwich simple pour le préchargement (PZT serrée par deux plaques), comme représenté sur la figure 2. Le porte-PZT et l'enceinte de l' échantillon peut être fabriqué à partir d' une variété de matériaux et méthodes. Pour une démonstration rapide, nous choisissons l' impression 3D avec thermoplastique comme illustré sur la figure 2d.</…

Discussion

Le lanceur piézoélectrique est conçu pour optimiser les performances dynamiques d'un PZT sélectionné. Une sélection appropriée des matériaux et la gestion des vibrations ultrasonores PZT sont les étapes clés pour donner une expérience réussie. PZT présentent des caractéristiques différentes en fonction du type de capteur (en vrac ou empilés) et les matériaux constitutifs (dur ou mou). Un type PZT en vrac constitué d'un matériau piézoélectrique dur est choisie pour les raisons suivantes. Tout…

Disclosures

The authors have nothing to disclose.

Acknowledgements

All work performed under the support of the National Institute of Standards and Technology. Certain commercial equipment, instruments, or materials are identified to foster understanding of this protocol. Such identification does not imply recommendation or endorsement by the National Institute of Standards and Technology, nor does it imply that the materials or equipment identified are necessarily the best available for the purpose.

Materials

ScotchBlue Painter's Tape Original 3M 3M2090
Scotch 810 Magic Tape 3M 3M810
Function/Arbitrary Waveform generator Agilent HP33250A
Power supply/Digital voltage supplier Agilent E3634A
Ring-type piezoelectric transducer American Piezo Company item91
Electro-optic modulator Con-Optics 350−80-LA
Amplifier for Electro-optic modulator Con-Optics 302RM
Mitutoyo NIR infinity Corrected Objective Edmund optics 46-404 Manufactured by Mitutoyo and Distributed by Edmund optics
LOCTITE SUPER GLUE LONGNECK BOTTLE Loctite 230992
3D printer MakerBot Replicator 2
Polylactic acid (PLA) filament MakerBot True Red PLA Small Spool
Data Acquisition system National Instruments 780114-01
Quadrant-cell photodetector Newport 2031
Translational stage Newport 562-XYZ
Inverted optical microscope Nikon Instruments EclipsTE2000
Fluorescence filter (green) Nikon Instruments G-2B
Flea3/CCD camera Point Grey FL3-U3-13S2M-CS Trapping laser
Diode pumped neodymium yttrium vanadate(Nd:YVO4) Spectra Physics J20I-8S-12K/ BL-106C
Indium tin oxide (ITO) Coated coverslips SPI supplies 06463B-AB Polystyrene microparticles
Fast Drying Silver Paint Tedpella 16040-30
Dri-Cal size standards Thermo Scientific DC-20
Optical Fiber Thorlabs P1−1064PM-FC-5 bottom plate
Aluminium plate  Thorlabs CP4S
High voltage power amplifier TREK PZD700A M/S

References

  1. Ashkin, A. Acceleration and Trapping of Particles by Radiation Pressure. Phys. Rev. Lett. 24 (4), 156-159 (1970).
  2. Gieseler, J., Novotny, L., Quidant, R. Thermal nonlinearities in a nanomechanical oscillator. Nat. Phys. 9 (12), 806-810 (2013).
  3. Gieseler, J., Deutsch, B., Quidant, R., Novotny, L. Subkelvin Parametric Feedback Cooling of a Laser-Trapped Nanoparticle. Phys. Rev. Lett. 109 (10), 103603 (2012).
  4. Chang, D. E., et al. Cavity opto-mechanics using an optically levitated nanosphere. Proc. Natl. Acad. Sci. 107 (3), 1005-1010 (2010).
  5. Arita, Y., Mazilu, M., Dholakia, K. Laser-induced rotation and cooling of a trapped microgyroscope in vacuum. Nat. Commun. 4, 2374 (2013).
  6. Ashkin, A., Dziedzic, J. Optical trapping and manipulation of viruses and bacteria. Science. 235 (4795), 1517-1520 (1987).
  7. Svoboda, K., Block, S. M. Biological Applications of Optical Forces. Annu. Rev. Biophys. Biomol. Struct. 23 (1), 247-285 (1994).
  8. Mehta, A. D. Single-Molecule Biomechanics with Optical Methods. Science. 283 (5408), 1689-1695 (1999).
  9. Arvanitaki, A., Geraci, A. A. Detecting High-Frequency Gravitational Waves with Optically Levitated Sensors. Phys. Rev. Lett. 110 (7), 071105 (2013).
  10. Moore, D. C., Rider, A. D., Gratta, G. Search for Millicharged Particles Using Optically Levitated Microspheres. Phys. Rev. Lett. 113 (25), 251801 (2014).
  11. Li, T., Kheifets, S., Medellin, D., Raizen, M. G. Measurement of the instantaneous velocity of a Brownian particle. Science. 328 (5986), 1673-1675 (2010).
  12. Park, H., LeBrun, T. W. Parametric Force Analysis for Measurement of Arbitrary Optical Forces on Particles Trapped in Air or Vacuum. ACS Photonics. 2 (10), 1451-1459 (2015).
  13. Summers, M. D., Burnham, D. R., McGloin, D. Trapping solid aerosols with optical tweezers: A comparison between gas and liquid phase optical traps. Opt. Express. 16 (11), 7739-7747 (2008).
  14. Anand, S., et al. Aerosol droplet optical trap loading using surface acoustic wave nebulization. Opt. Express. 21 (25), 30148-30155 (2013).
  15. Lee, W. M., Reece, P. J., Marchington, R. F., Metzger, N. K., Dholakia, K. Construction and calibration of an optical trap on a fluorescence optical microscope. Nat. Protoc. 2 (12), 3226-3238 (2007).
  16. Pesce, G., et al. Step-by-step guide to the realization of advanced optical tweezers. J. Opt. Soc. Am. B. 32 (5), B84 (2015).
  17. Thornton, S. T., Marion, J. B. . Classical Dynamics of Particles and Systems. , (2003).
  18. Ashkin, A. Stability of optical levitation by radiation pressure. Appl. Phys. Lett. 24 (12), 586-588 (1974).
  19. Chandrasekhar, S. Stochastic Problems in Physics and Astronomy. Rev. Mod. Phys. 15 (1), 1-89 (1943).
  20. Li, T. . Fundamental Tests of Physics with Optically Trapped Microspheres. , 9-21 (2013).
  21. Chai, Z., Liu, Y., Lu, X., He, D. Reducing Adhesion Force by Means of Atomic Layer Deposition of ZnO Films with Nanoscale Surface Roughness. ACS Appl. Mater. Interfaces. 6 (5), 3325-3330 (2014).
  22. Park, H., LeBrun, T. W. Measurement and accumulation of electric charge on a single dielectric particle trapped in air. SPIE OPTO. 9764, (2016).

Play Video

Cite This Article
Park, H., LeBrun, T. W. Optical Trap Loading of Dielectric Microparticles In Air. J. Vis. Exp. (120), e54862, doi:10.3791/54862 (2017).

View Video