Journal
/
Engenharia
/
Kelvin Probu Kuvvet Mikroskobunun Diğer Mikroskoplar ve Spektroskopilerle Birlikte Lokalize Edilmesi: Alaşımların Korozyon Karakterizasyonunda Seçilmiş Uygulamalar
JoVE Journal
Engenharia
Author Produced
This content is Free Access.
JoVE Journal Engenharia
Co-localizing Kelvin Probe Force Microscopy with Other Microscopies and Spectroscopies: Selected Applications in Corrosion Characterization of Alloys
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Kelvin Probu Kuvvet Mikroskobunun Diğer Mikroskoplar ve Spektroskopilerle Birlikte Lokalize Edilmesi: Alaşımların Korozyon Karakterizasyonunda Seçilmiş Uygulamalar

DOI:
10.3791/64102-v

•

12:18 min

•

June 27, 2022

•

, , , , ,
1Micron School of Materials Science & Engineering,Boise State University, 2Material, Physical, and Chemical Sciences Center,Sandia National Laboratories, 3Center for Advanced Energy Studies

Capítulos

  • 00:05Introduction
  • 01:08Sample Preparation for Co-Localized Imaging of a Metal Alloy
  • 02:11KPFM Imaging
  • 06:51SEM, EDS, and EBSD Imaging
  • 07:41KPFM, SEM, EDS, and EBSD Image Overlay and Analysis
  • 09:37Results I: 3D Printed Ternary Ti Alloy: KPFM and SEM/EBSD
  • 10:41Results II: Cross-Sectional Analysis of Zr Alloys for Nuclear Cladding: KPFM, SEM, and Raman
  • 11:21Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

Kelvin probu kuvvet mikroskobu (KPFM), yüzey topografyasını ve yüzey potansiyelindeki farklılıkları ölçerken, taramalı elektron mikroskobu (SEM) ve ilişkili spektroskopiler yüzey morfolojisini, bileşimini, kristalinitesini ve kristalografik oryantasyonunu aydınlatabilir. Buna göre, SEM'in KPFM ile birlikte lokalizasyonu, nano ölçekli bileşimin ve yüzey yapısının korozyon üzerindeki etkileri hakkında fikir verebilir.

Tags

Keywords: Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)Scanning Electron Microscopy (SEM)ColocalizationCorrosion CharacterizationAlloysSurface PotentialSurface TopographyMaterial StructureProperty PerformanceSample PreparationConductive PathAFM Probe

Article

Embed

ADICIONAR À PLAYLIST

Usage Statistics

Vídeos Relacionados

check_url/pt/64102?article_type=v

İyon Püskürtme Uygulamaları, Lazer Ablasyon ve Triboloji Deneyler: Beyaz Işık Interferometre ile yüzey modifikasyonları Karakterizasyonu
check_url/pt/64102?article_type=v

Polimer Fırçalar Karşı karışmayan hazırlanması ve Sürtünme Kuvvet Mikroskobu Ölçümleri,
check_url/pt/64102?article_type=v

C problama<sub> 84</sub> Taramalı Uç Mikroskobu ve Molecular Dynamics Kullanarak Si Maddesini Gömülü
check_url/pt/64102?article_type=v

Sıvı olarak Genlik modülasyonu Atomik Kuvvet Mikroskobu ile alt nanometre Çözünürlüklü Görüntüleme
check_url/pt/64102?article_type=v

İletim Kikuchi difraksiyonu kullanılarak ultra-ince taneli ve Nanokristal Malzemelerin Karakterizasyonu
check_url/pt/64102?article_type=v

Asimetrik Algılama Zaman-Streçi Optik Mikroskopi (ATOM) ile Mikroakışkan Görüntüleme Akış Sitometresi
check_url/pt/64102?article_type=v

Optik Rezonatör ve Lazer Uygulamalarında Polimer Mikrokürelerin Üretimi
check_url/pt/64102?article_type=v

Tribocorrosion hızı ve toplu ve İnce Film Alüminyum Alaşımlarının aşınma-korozyon sinerji belirleme
check_url/pt/64102?article_type=v

Karışık Fazlı a -VOx'e Dayalı Asimetrik Çapraz Çubukların Önyargılı ve İmalatlı Yerinde İletim Elektron Mikroskopisi

check_url/pt/64102?article_type=v

Active Probe Atomic Force Microscopy with Quattro-Parallel Cantilever Arrays for High-Throughput Large-Scale Sample Inspection

Read Article