/
/
Совместная локализация зондовой силовой микроскопии Кельвина с другими микроскопиями и спектроскопиями: избранные применения в коррозионной характеристике сплавов
This content is Free Access.
Capítulos
- 00:05Introduction
- 01:08Sample Preparation for Co-Localized Imaging of a Metal Alloy
- 02:11KPFM Imaging
- 06:51SEM, EDS, and EBSD Imaging
- 07:41KPFM, SEM, EDS, and EBSD Image Overlay and Analysis
- 09:37Results I: 3D Printed Ternary Ti Alloy: KPFM and SEM/EBSD
- 10:41Results II: Cross-Sectional Analysis of Zr Alloys for Nuclear Cladding: KPFM, SEM, and Raman
- 11:21Conclusion
Зондовая силовая микроскопия Кельвина (KPFM) измеряет топографию поверхности и различия в потенциале поверхности, в то время как сканирующая электронная микроскопия (SEM) и связанные с ней спектроскопии могут прояснить морфологию поверхности, состав, кристалличность и кристаллографическую ориентацию. Соответственно, совместная локализация SEM с KPFM может дать представление о влиянии наноразмерного состава и структуры поверхности на коррозию.
