Journal
/
Engenharia
/
켈빈 프로브 힘 현미경을 다른 현미경 및 분광학과 공동 위치 파악: 합금의 부식 특성화에서 선택된 응용 분야
JoVE Journal
Engenharia
Author Produced
This content is Free Access.
JoVE Journal Engenharia
Co-localizing Kelvin Probe Force Microscopy with Other Microscopies and Spectroscopies: Selected Applications in Corrosion Characterization of Alloys
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

켈빈 프로브 힘 현미경을 다른 현미경 및 분광학과 공동 위치 파악: 합금의 부식 특성화에서 선택된 응용 분야

DOI:
10.3791/64102-v

•

12:18 min

•

June 27, 2022

•

, , , , ,
1Micron School of Materials Science & Engineering,Boise State University, 2Material, Physical, and Chemical Sciences Center,Sandia National Laboratories, 3Center for Advanced Energy Studies

Capítulos

  • 00:05Introduction
  • 01:08Sample Preparation for Co-Localized Imaging of a Metal Alloy
  • 02:11KPFM Imaging
  • 06:51SEM, EDS, and EBSD Imaging
  • 07:41KPFM, SEM, EDS, and EBSD Image Overlay and Analysis
  • 09:37Results I: 3D Printed Ternary Ti Alloy: KPFM and SEM/EBSD
  • 10:41Results II: Cross-Sectional Analysis of Zr Alloys for Nuclear Cladding: KPFM, SEM, and Raman
  • 11:21Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

켈빈 프로브 힘 현미경(KPFM)은 표면 지형과 표면 전위의 차이를 측정하는 반면, 주사 전자 현미경(SEM) 및 관련 분광법은 표면 형태, 구성, 결정도 및 결정학적 방향을 밝힐 수 있습니다. 따라서 SEM과 KPFM의 공동 국소화는 나노 스케일 조성 및 표면 구조가 부식에 미치는 영향에 대한 통찰력을 제공 할 수 있습니다.

Tags

Keywords: Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)Scanning Electron Microscopy (SEM)ColocalizationCorrosion CharacterizationAlloysSurface PotentialSurface TopographyMaterial StructureProperty PerformanceSample PreparationConductive PathAFM Probe

Article

Embed

ADICIONAR À PLAYLIST

Usage Statistics

Vídeos Relacionados

check_url/pt/64102?article_type=v

이온 스퍼터링에 응용 프로그램, 레이저 절제하고, Tribology 실험 : 화이트 빛 간섭 측정법에 의한 표면 수정의 특성
check_url/pt/64102?article_type=v

고분자 브러쉬를 반대 섞이지의 준비 및 마찰 힘 현미경 측정,
check_url/pt/64102?article_type=v

C 프로빙<sub> (84)</sub>은 스캐닝 프로브 현미경 및 분자 역학을 사용하여 실리콘 기판을 - 임베디드
check_url/pt/64102?article_type=v

액체의 진폭 변조 원자 힘 현미경과 서브 나노 미터 해상도 이미징
check_url/pt/64102?article_type=v

전송 키쿠치 회절을 사용하여 울트라 미세 그레인과 나노 결정 재료의 특성
check_url/pt/64102?article_type=v

Microfluidic Imaging Flow Cytometry by Asymmetric-detection Time-stretch Optical Microscopy (ATOM)
check_url/pt/64102?article_type=v

광 공진기 및 레이저 응용을위한 고분자 미소 구의 제조
check_url/pt/64102?article_type=v

Tribocorrosion 속도 대량이 고 얇은 알루미늄 합금의 마모 부식 시너지를 결정
check_url/pt/64102?article_type=v

혼합 위상 a-VOx에 따라 비대칭 크로스바의 바이어스 및 제조와 시투 전송 전자 현미경 검사법
check_url/pt/64102?article_type=v

Active Probe Atomic Force Microscopy with Quattro-Parallel Cantilever Arrays for High-Throughput Large-Scale Sample Inspection

Read Article