Journal
/
Engenharia
/
לוקליזציה משותפת של מיקרוסקופיית כוח הגשושית קלווין עם מיקרוסקופיות וספקטרוסקופיות אחרות: יישומים נבחרים באפיון קורוזיה של סגסוגות
JoVE Journal
Engenharia
Author Produced
This content is Free Access.
JoVE Journal Engenharia
Co-localizing Kelvin Probe Force Microscopy with Other Microscopies and Spectroscopies: Selected Applications in Corrosion Characterization of Alloys
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

לוקליזציה משותפת של מיקרוסקופיית כוח הגשושית קלווין עם מיקרוסקופיות וספקטרוסקופיות אחרות: יישומים נבחרים באפיון קורוזיה של סגסוגות

DOI:
10.3791/64102-v

•

12:18 min

•

June 27, 2022

•

, , , , ,
1Micron School of Materials Science & Engineering,Boise State University, 2Material, Physical, and Chemical Sciences Center,Sandia National Laboratories, 3Center for Advanced Energy Studies

Capítulos

  • 00:05Introduction
  • 01:08Sample Preparation for Co-Localized Imaging of a Metal Alloy
  • 02:11KPFM Imaging
  • 06:51SEM, EDS, and EBSD Imaging
  • 07:41KPFM, SEM, EDS, and EBSD Image Overlay and Analysis
  • 09:37Results I: 3D Printed Ternary Ti Alloy: KPFM and SEM/EBSD
  • 10:41Results II: Cross-Sectional Analysis of Zr Alloys for Nuclear Cladding: KPFM, SEM, and Raman
  • 11:21Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

מיקרוסקופיית כוח הגשושית קלווין (KPFM) מודדת את הטופוגרפיה של פני השטח ואת ההבדלים בפוטנציאל פני השטח, בעוד שמיקרוסקופיית אלקטרונים סורקת (SEM) וספקטרוסקופיות נלוות יכולות להבהיר את המורפולוגיה, ההרכב, הגבישיות והכיוון הקריסטלוגרפי של פני השטח. בהתאם לכך, לוקליזציה משותפת של SEM עם KPFM יכולה לספק תובנה לגבי ההשפעות של הרכב ננומטרי ומבנה פני השטח על קורוזיה.

Tags

Keywords: Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)Scanning Electron Microscopy (SEM)ColocalizationCorrosion CharacterizationAlloysSurface PotentialSurface TopographyMaterial StructureProperty PerformanceSample PreparationConductive PathAFM Probe

Article

Embed

ADICIONAR À PLAYLIST

Usage Statistics

Vídeos Relacionados

check_url/pt/64102?article_type=v

אפיון של פני שטח על ידי שינויי Interferometry אור הלבן: יישומים ביון יורקת, אבלציה ליזר, וניסויי Tribology
check_url/pt/64102?article_type=v

מדידות הכנה וחיכוך מיקרוסקופית כוח של immiscible, המתנגדות למברשות פולימר
check_url/pt/64102?article_type=v

גשוש C<sub> 84</sub> -embedded Si המצע באמצעות סריקת בדיקה מיקרוסקופית דינאמיקה מולקולארית
check_url/pt/64102?article_type=v

הדמיה ברזולוציה משנה ננומטר עם מיקרוסקופית כוח אטומי משרעת אפנון בנוזל
check_url/pt/64102?article_type=v

אפיון של אולטרה-קפדניים Nanocrystalline חומרים באמצעות דיפרקציה הילוכים קיקוצ'י
check_url/pt/64102?article_type=v

Microfluidic דימות זרימת cytometry ידי אסימטרית איתור זמן למתוח אופטי מיקרוסקופית (ATOM)
check_url/pt/64102?article_type=v

ייצור של פולימרים microspheres עבור מהוד אופטי ויישומי לייזר
check_url/pt/64102?article_type=v

קביעת קצב Tribocorrosion ואת הסינרגיה ללבישה-קורוזיה של סגסוגות אלומיניום בתפזורת ושכבות דקות
check_url/pt/64102?article_type=v

ב מיקרוסקופ אלקטרונים שידור Situ עם הטיה והפיקה של מוטות אסימטריים המבוססים על מעורב שלבים a-VOx
check_url/pt/64102?article_type=v

Active Probe Atomic Force Microscopy with Quattro-Parallel Cantilever Arrays for High-Throughput Large-Scale Sample Inspection

Read Article