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Colocalisation de la microscopie à force de sonde Kelvin avec d’autres microscopies et spectroscopies : applications sélectionnées dans la caractérisation de la corrosion des alliages
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Capítulos
- 00:05Introduction
- 01:08Sample Preparation for Co-Localized Imaging of a Metal Alloy
- 02:11KPFM Imaging
- 06:51SEM, EDS, and EBSD Imaging
- 07:41KPFM, SEM, EDS, and EBSD Image Overlay and Analysis
- 09:37Results I: 3D Printed Ternary Ti Alloy: KPFM and SEM/EBSD
- 10:41Results II: Cross-Sectional Analysis of Zr Alloys for Nuclear Cladding: KPFM, SEM, and Raman
- 11:21Conclusion
La microscopie à force de sonde Kelvin (KPFM) mesure la topographie de surface et les différences de potentiel de surface, tandis que la microscopie électronique à balayage (MEB) et les spectroscopies associées peuvent élucider la morphologie, la composition, la cristallinité et l’orientation cristallographique de la surface. En conséquence, la co-localisation du SEM avec KPFM peut donner un aperçu des effets de la composition et de la structure de surface à l’échelle nanométrique sur la corrosion.
