This content is Free Access.
Capítulos
- 00:05Introduction
- 00:42Instrument and Blotting Parameter Set-up
- 02:53Crystal Harvest Process
- 04:01Light Microscopy for Sample Density Assessment
- 04:30Scanning Electron Microscopy for Sample Assessment
- 05:38Grid Preparation for the Diffraction Experiments at VMXm
- 06:47Results: Analysis of the Microcrystals on the Grids
- 08:24Conclusion
Signal-til-støj-forholdet mellem data er en af de vigtigste overvejelser i udførelsen af X-ray diffraktion målinger fra mikrokrystaller. VMXm-beamline giver et støjsvagt miljø og mikrobjælke til sådanne eksperimenter. Her beskriver vi prøveforberedelsesmetoder til montering og afkøling af mikrokrystaller til VMXm og andre mikrofokus makromolekylær krystallografistrålelinjer.
