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Preparación de nanopartículas para análisis ToF-SIMS y XPS
JoVE Journal
Química
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JoVE Journal Química
Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis
DOI:

06:24 min

September 13, 2020

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Capítulos

  • 00:05Introduction
  • 00:45Nanoparticle Suspension Preparation, Drop-Dry Deposition, and Spin Coating Deposition
  • 02:24Nanoparticle Powder Deposition
  • 03:15Nanoparticle Suspension Cryofixation
  • 04:06Results: Representative Nanoparticle Preparation for Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Analysis
  • 05:41Conclusion

Summary

Tadução automática

Se presentan varios procedimientos diferentes para preparar nanopartículas para el análisis de superficies (fundición por gota, recubrimiento por espín, deposición de polvos y criofijación). Discutimos los desafíos, oportunidades y posibles aplicaciones de cada método, particularmente con respecto a los cambios en las propiedades de la superficie causados por los diferentes métodos de preparación.

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