Journal
/
Química
/
הכנת חלקיקים לניתוח ToF-SIMS ו- XPS
JoVE Journal
Química
This content is Free Access.
JoVE Journal Química
Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

הכנת חלקיקים לניתוח ToF-SIMS ו- XPS

6,917 Views

•

06:24 min

•

September 13, 2020

DOI:

10.3791/61758-v

DOI:
10.3791/61758-v

•

06:24 min
September 13, 2020

•

44 Views
, , , , , , ,
1Division of Surface Analysis and Interfacial Chemistry,Federal Institute for Material Research and Testing (BAM), 2Department of Chemical and Product Safety,German Federal Institute for Risk Assessment (BfR)

Summary

Automatically generated

מספר הליכים שונים להכנת חלקיקים לניתוח פני השטח מוצגים (יציקת טיפה, ציפוי ספין, תצהיר מאבקות, קריופיקסציה). אנו דנים באתגרים, בהזדמנויות וביישומים האפשריים של כל שיטה, במיוחד לגבי השינויים במאפייני פני השטח הנגרמים על ידי שיטות ההכנה השונות.

Explore More Videos

NanoparticlesSurface AnalysisToF-SIMSXPSSample PreparationSuspensionDrop Dry MethodSpin CoatingPowder DepositionUV Ozone CleanerVacuumSilicon WaferO-ringMicroscopySEM

Read Article

Cite this Article

Bennet, F., Müller, A., Radnik, J., Hachenberger, Y., Jungnickel, H., Laux, P., Luch, A., Tentschert, J. Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis. J. Vis. Exp. (163), e61758, doi:10.3791/61758 (2020).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy