Journal
/
/
قياس الكم التدخل في المصدر السيليكون الدائري الرنان فوتون
JoVE Journal
Engenharia
É necessária uma assinatura da JoVE para visualizar este conteúdo.  Faça login ou comece sua avaliação gratuita.
JoVE Journal Engenharia
Measurement of Quantum Interference in a Silicon Ring Resonator Photon Source
DOI:

12:19 min

April 04, 2017

, , , , , ,

Capítulos

  • 00:05Título
  • 00:34Photonic Chip Preparation
  • 02:24Preparation of Fiber Pigtails
  • 03:45Configuration of the Photonic Chip and Fibers
  • 06:09Dispersion Characterization
  • 08:42Measuring Two-photon Interference
  • 10:25Results: Interference and Bi-photon Visibility Measurement
  • 11:32Conclusion

Summary

Tadução automática

السيليكون رقائق الضوئية لديها القدرة على تحقيق أنظمة الكم متكاملة معقدة. المقدمة هنا هي طريقة لإعداد واختبار رقاقة السيليكون الضوئية لقياس الكم.

Vídeos Relacionados

Read Article