/

/

低圧走査型電子顕微鏡を用いたカーボンナノチューブの森の精密フライス

JoVE Journal
Engenharia

É necessária uma assinatura da JoVE para visualizar este conteúdo. Faça login ou comece sua avaliação gratuita.

JoVE Journal Engenharia

Precision Milling of Carbon Nanotube Forests Using Low Pressure Scanning Electron Microscopy

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

低圧走査型電子顕微鏡を用いたカーボンナノチューブの森の精密フライス

DOI:

10.3791/55149-v

•

08:10 min

•

February 05, 2017

•

Josef Brown, Benjamin F. Davis, Matthew R. Maschmann

¹Department of Mechanical & Aerospace Engineering,University of Missouri

Capítulos

00:05Título
01:02Carbon Nanotube (CNT) Forest Sample and Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) Preparation
03:52SEM Setup in Low Pressure Water Vapor
05:10CNT Forest Milling
06:47Results: Precision Milling of Carbon Nanotube Forests
07:46Conclusion

Summary

Tadução automática

Low pressure scanning electron microscopy in a water vapor ambient is used to machine nanoscale to microscale features in carbon nanotube forests.

Tags

Keywords: Carbon Nanotubes Precision Milling Low Pressure Scanning Electron Microscopy CNT Forests Material Characterization 3D Features Graphene Diamond Biological Cells

Article

Embed

ADICIONAR À PLAYLIST

Usage Statistics

Vídeos Relacionados

製造、ち密化、および3Dカーボンナノチューブの微細構造のレプリカ成形

カーボンナノチューブアレイの濡れ特性をチューニングするための処置をアニーリングドライ酸化と真空

コルク栓のように金ナノ粒子と窒素ドープカーボンナノチューブカップの合成と機能化

エクストリーム圧力と温度での合成とMicrodiffraction

走査プローブ単電子容量分光

半導体技術との互換性低温カーボンナノチューブ垂直相互接続の作製

走査型電子顕微鏡（SEM）と相関X線コンピュータ断層撮影（CT）および光学顕微鏡（LM）の組合せによるLEDの深さ分析で

Cプロービング<sub> 84</sub>走査型プローブ顕微鏡および分子動力学を用いたSi基板を-embedded

走査型透過電子顕微鏡を用いて、液体中にナノサイズのオブジェクトの動的プロセスを学びます

静的スキャンモードで中性子ガンマ解析による土壌炭素の測定

Read Article