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Applying X-ray Imaging Crystal Spectroscopy for Use as a High Temperature Plasma Diagnostic
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L'applicazione di X-ray Imaging cristallo Spettroscopia per l'uso come ad alta temperatura del plasma di diagnostica

DOI:
10.3791/54408-v

•

06:46 min

•

August 25, 2016

•

, ,
1Department of Nuclear Science and Engineering,Massachusetts Institute of Technology, 2Department of Physics,Massachusetts Institute of Technology, 3Plasma Science and Fusion Center,Massachusetts Institute of Technology

Capítulos

  • 00:05Título
  • 00:53Mounting the High Resolution X-ray Crystal Imaging Spectrometer with Spatial Resolution (HIREXSR) Hardware
  • 04:12Results: Inverted Plasma Temperature and Torodial Velocity Profiles from Argon Helium-like Spectra
  • 05:38Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

spettri a raggi X offrono una ricchezza di informazioni sui plasmi ad alta temperatura. Questo manoscritto presenta il funzionamento di una risoluzione elevata lunghezza d'onda spazialmente l'imaging spettrometro a raggi X utilizzato per visualizzare ioni a idrogeno ed elio-come elementi di numero atomico medio in un plasma tokamak.

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Keywords: X-ray ImagingCrystal SpectroscopyPlasma DiagnosticsFusion PlasmaIon TemperatureRotation VelocityElectron TemperatureImpurity DensityTransport ModelingHIREXSRLaser Blow-offTokamak Plasma

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