Journal
/
/
L'application X-ray Imaging Cristal Spectroscopie pour l'utilisation en tant que haute température Diagnostic plasma
JoVE Journal
Engenharia
É necessária uma assinatura da JoVE para visualizar este conteúdo.  Faça login ou comece sua avaliação gratuita.
JoVE Journal Engenharia
Applying X-ray Imaging Crystal Spectroscopy for Use as a High Temperature Plasma Diagnostic
DOI:

06:46 min

August 25, 2016

, ,

Capítulos

  • 00:05Título
  • 00:53Mounting the High Resolution X-ray Crystal Imaging Spectrometer with Spatial Resolution (HIREXSR) Hardware
  • 04:12Results: Inverted Plasma Temperature and Torodial Velocity Profiles from Argon Helium-like Spectra
  • 05:38Conclusion

Summary

Tadução automática

Les spectres de rayons X fournissent une mine d'informations sur les plasmas à haute température. Ce manuscrit présente le fonctionnement d'une résolution de longueur d'onde haute imagerie spatialement spectromètre à rayons X utilisé pour afficher des ions de l'hydrogène et l'hélium comme des éléments de numéro atomique moyen dans un plasma de tokamak.

Vídeos Relacionados

Read Article