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핵 반응 분석과 깊이 프로파일 링을 통해 표면 및 인터페이스 레이어 및 대량 재료의 수소 농도의 정량화
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Quantification of Hydrogen Concentrations in Surface and Interface Layers and Bulk Materials through Depth Profiling with Nuclear Reaction Analysis
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핵 반응 분석과 깊이 프로파일 링을 통해 표면 및 인터페이스 레이어 및 대량 재료의 수소 농도의 정량화

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14:11 min

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March 29, 2016

DOI:

10.3791/53452-v

DOI:
10.3791/53452-v

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14:11 min
March 29, 2016

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1Institute of Industrial Science,The University of Tokyo, 2Micro Analysis Laboratory, Tandem accelerator, The University Museum,The University of Tokyo

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Hydrogen ConcentrationNuclear Reaction AnalysisDepth ProfilingSurface And Interface LayersBulk MaterialsHydrogen StorageFuel CellsHydrogenation CatalystsSemiconductor TechnologyPalladiumLow Energy Electron DiffractionAuger Electron Spectroscopy

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Wilde, M., Ohno, S., Ogura, S., Fukutani, K., Matsuzaki, H. Quantification of Hydrogen Concentrations in Surface and Interface Layers and Bulk Materials through Depth Profiling with Nuclear Reaction Analysis. J. Vis. Exp. (109), e53452, doi:10.3791/53452 (2016).

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