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La quantificazione delle concentrazioni di idrogeno in superficie e di interfaccia Livelli e materiale sfuso attraverso profili di profondità con l'analisi reazione nucleare
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Capítulos
- 00:05Título
- 01:29Single Crystal Surface Preparation for Nuclear Reaction Analysis (NRA) in Ultra-high Vacuum
- 08:07Surface Hydrogen Nuclear Reaction Analysis Measurements
- 09:24Bulk and Interface Hydrogen Nuclear Reaction Analysis: Preparation and Measurement
- 11:02Results: Nuclear Reaction Analysis Hydrogen Depth Profiles for Single Crystal Palladium and from Silicon Dioxide Films on Silicon
- 12:50Conclusion
Illustriamo l'applicazione di 1 H (15 N, αγ) 12 C risonante analisi reazione nucleare (NRA) valutare quantitativamente la densità di atomi di idrogeno sulla superficie, in volume, ea uno strato interfacciale di materiali solidi. La prossimità della superficie approfondita idrogeno profilatura di un Pd (110) cristallo singolo e di SiO 2 / Si (100) impila è descritto.
