Waiting
Processando Login

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / Atom Probe Tomografie Studies over de Cu (In, Ga) …
JoVE Journal
Engineering

É necessário ter uma assinatura JoVE para assistir este Faça login ou comece sua avaliação gratuita.

JoVE Journal Engineering
Atom Probe Tomografie Studies over de Cu (In, Ga) Se
 
Click here for the English version

Atom Probe Tomografie Studies over de Cu (In, Ga) Se

Article DOI: 10.3791/50376-v • 09:51 min • April 22nd, 2013
April 22nd, 2013 •
1, 1, 1, 1, 2, 1
1Department of Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, 2Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg ( ZSW )

Capítulos

Resumo
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

In dit werk, beschrijven we het gebruik van het atoom-probe tomografie techniek voor het bestuderen van de korrelgrenzen van de absorptielaag in een CIGS zonnecel. Een alternatief middel om de atoom meetpennen die de gewenste korrelgrens met een bekende structuur te bereiden wordt hier gepresenteerd.

Tags

Fysica Scheikunde field theory (natuurkunde) kristallografie halfgeleidende materialen vaste stof fysica gecondenseerde materie dunne films (theorie afzetting en groei) kristaldefecten kristalstructuur (halfgeleiders) Dunne-film zonnecellen Cu (In Ga) Se Korrelgrens segregatie gepulste laser atom probe tomografie transmissie-elektronenmicroscopie TEM elektronen backscatter diffractie atoom sonde tomografie APT SEM imaging
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter