Summary

Fabbricazione di gate-sintonizzabili dispositivi di grafene per effetto tunnel studi di microscopia con Coulomb impurità

Published: July 24, 2015
doi:

Summary

This paper details the fabrication process of a gate-tunable graphene device, decorated with Coulomb impurities for scanning tunneling microscopy studies. Mapping the spatially dependent electronic structure of graphene in the presence of charged impurities unveils the unique behavior of its relativistic charge carriers in response to a local Coulomb potential.

Abstract

Grazie alle sue portatori di carica a basso consumo energetico relativistiche, l'interazione tra grafene e le varie impurità porta ad una ricchezza di nuova fisica e gradi di libertà per controllare i dispositivi elettronici. In particolare, il comportamento dei portatori di carica di grafene in risposta a potenziali dalle impurità Coulomb praticati si prevede differire significativamente da quella della maggior parte dei materiali. Microscopia a scansione a effetto tunnel (STM) e la spettroscopia a effetto tunnel (STS) possono fornire informazioni dettagliate sia sulla dipendenza spaziale e l'energia della struttura elettronica di grafene in presenza di un'impurità carica. La progettazione di un dispositivo di impurezza-grafene ibrido, fabbricato con la deposizione controllata di impurità su una superficie di back-gated grafene, ha consentito a diversi nuovi metodi per le proprietà elettroniche controllabile accordatura del grafene. 1-8 elettrostatica gating consente il controllo della densità portatori di carica in grafene e la capacità di Reversisintonizzare bilmente la carica 2 e / o molecolari 5 stati di impurezza. Questo documento delinea il processo di fabbricazione di un dispositivo grafene gate-sintonizzabile decorato con le singole impurezze Coulomb per STM / STS studi combinati. 2-5 Questi studi forniscono preziose informazioni la fisica sottostante, nonché indicazioni per la progettazione di dispositivi di grafene ibridi.

Introduction

Grafene è un materiale bidimensionale con una struttura unica fascia lineare, che dà luogo alle eccezionali proprietà elettriche, ottiche e meccaniche. 1,9-16 suoi portatori di carica bassa energia sono descritti come relativistici, senza massa fermioni di Dirac 15, la cui comportamento differisce significativamente da quella dei portatori di carica non relativistica nei sistemi tradizionali. 15-18 deposizione controllata di una varietà di impurità su grafene fornisce una piattaforma tuttavia versatile semplice per studi sperimentali della risposta di questi portatori di carica relativistiche ad una gamma di perturbazioni. Le indagini di questi sistemi rivelano che le impurità grafene possono spostare il potenziale chimico 6,7, alterare la effettiva costante dielettrica 8, e potenzialmente portare alla superconduttività mediata elettronicamente 9. Molti di questi studi 6-8 impiegano gating elettrostatica come mezzo per sintonizzare le proprietà del impurit ibridoy-grafene dispositivo. Gating elettrostatica può spostare la struttura elettronica di un materiale rispetto al suo livello di Fermi senza isteresi. 2-5 Inoltre, ruotando la carica 2 o molecolare 5 stati di tali impurità, gating elettrostatiche possono reversibilmente modificare le proprietà di un ibrido impurezza-grafene dispositivo.

Back-gating un dispositivo grafene fornisce un sistema ideale per l'indagine al microscopio a effetto tunnel (STM). Un microscopio a scansione tunnel costituito da una punta metallica tagliente tenuta pochi angstrom distanza da una superficie conduttiva. Applicando una polarizzazione tra la punta e la superficie, elettroni tunnel tra i due. Nel modo più comune, modalità di corrente costante, si può mappare la topografia della superficie del campione da raster scansione la punta in avanti e indietro. Inoltre, la struttura elettronica locale del campione può essere studiato esaminando una conduttanza differenziale dI / dV spettro, che è proporzionale alla de localinsity di stati (ldo). Questa misura viene spesso chiamato spettroscopia a effetto tunnel (STS). Controllando separatamente le tensioni di polarizzazione e back-cancello, la risposta di grafene di impurità può essere studiata analizzando il comportamento di questi spettri dI / dV. 2-5

In questa relazione, la realizzazione di un dispositivo di grafene back-gated decorata con impurità Coulomb (ad esempio, paga atomi Ca) è delineato. Il dispositivo è costituito da elementi nell'ordine seguente (dall'alto verso il basso): adatomo calcio e cluster, grafene, esagonale nitruro di boro (h-BN), diossido di silicio (SiO 2), e silicio bulk (Figura 1). h-BN è una pellicola sottile isolante, che fornisce un substrato atomicamente piatta ed elettricamente omogeneo grafene. 19-21 h-BN e SiO 2 agiscono come dielettrici e bulk Si serve come retro-gate.

Per realizzare il dispositivo, il grafene è dapprima cresciuto su un electrocheappo sita lucido Cu lamina 22,23, che funge da superficie catalitica pulita per la deposizione di vapore chimico (CVD) 22-25 di grafene. In crescita CVD, metano (CH 4) e idrogeno (H 2) gas precursori subiscono pirolisi per formare domini di cristalli di grafene sulla lamina Cu. Questi domini crescono e alla fine si fondono, formando un foglio policristallino grafene. 25 Il grafene risultante viene trasferito sul substrato bersaglio, un SiO 2 chip di h-BN / (preparato da esfoliazione meccanica 19-21 di h-BN su un SiO 2 / Si (100) chip), via poli (metilmetacrilato) (PMMA) trasferimento. 26-28 Nel trasferimento PMMA, il grafene su Cu è il primo spin-rivestito con uno strato di PMMA. Il / grafene / campione Cu PMMA galleggia poi su una soluzione mordenzante (pe, FeCl 3 (aq) 28), che incide via il Cu. Il campione PMMA / grafene non ha reagito viene pescato con un chip h-BN / SiO 2 e successivamentepuliti in un solvente organico (ad esempio, CH 2 Cl 2) e Ar / H 2 ambiente 29,30 per rimuovere lo strato di PMMA. Il campione 2 / Si grafene risultante / h-BN / SiO è poi filo-legato per contatti elettrici di un ultra-alto vuoto (UHV) Piastra campione e ricotto in una camera UHV. Infine, il dispositivo grafene è depositato in situ con impurità Coulomb (ad esempio, carica atomi Ca) e studiato da STM. 2-5

Protocol

1. elettrochimico lucidatura di un Cu Foil 22,23 Nota: elettrochimico lucidatura espone nuda superficie Cu per la crescita grafene togliendo il rivestimento superficiale di protezione e controlla la densità di semina di crescita. Preparare una soluzione di lucidatura elettrochimica miscelando 100 ml di acqua ultra-pura, 50 ml di etanolo, 50 ml di acido fosforico, 10 ml di isopropanolo, e 1 g di urea. Tagliare Cu foglio in più 3 centimetri da 3 centimetri lam…

Representative Results

La figura 1 illustra una vista schematica di un dispositivo di grafene back-gated. Fili incollaggio Au / Ti contatto a un UHV motivi piastra campione grafene elettricamente, mentre wire-bonding Si bulk ad un elettrodo che si connette a un circuito esterno di back-gate del dispositivo. By-back gate di un dispositivo, uno stato di carica di una impurezza Coulomb in un dato campione di polarizzazione (che è controllata dalla punta STM) può essere sintonizzata su un diverso stato di carica. 2-4…

Discussion

Per caratterizzazione STM, obiettivi critici della fabbricazione del dispositivo grafene includono: 1) crescita monostrato grafene con un numero minimo di difetti, 2) ottenendo un grande, pulito, uniforme, e la superficie grafene continua, 3) l'assemblaggio di un dispositivo di grafene con elevata resistenza tra grafene e la porta (cioè, senza "fuga gate"), e 4) depositando singole impurezze Coulomb.

Il primo obiettivo è governato dal processo CVD, durante il quale g…

Declarações

The authors have nothing to disclose.

Acknowledgements

La nostra ricerca è stata sostenuta dal direttore, Office of Science, Ufficio di Scienze energetici di base del Dipartimento dell'Energia degli Stati Uniti Programma sp2 sotto contratto n. DE-AC02-05CH11231 (STM sviluppo di strumentazione e l'integrazione del dispositivo); l'Office of Naval Research (caratterizzazione dei dispositivi), e premio NSF no. CMMI-1235361 (dI / dV di imaging). Dati STM sono stati analizzati e resi utilizzando il software WSxM. 33 DW e AJB sono stati sostenuti dal Dipartimento della Difesa (DoD) attraverso il Programma Nazionale Defense Science & Engineering Graduate Fellowship (NDSEG), 32 CFR 168.

Materials

Cu foil Alfa Aesar CAS # 7440-50-8 99.8% Cu
Lot # F22X029
Stock # 13382
Scotch Magic Tape Scotch® N/A for exfoliation of hBN
PMMA Micro Chem M23004 0500L 1GL A4
FeCl3 resistant spoon Bel-Art ScienceWare 367300015 PTFE coated double ended 
chemical spoon, 15 cm length
FeCl3 (aq) Ricca Chemical 3127-16 40% w/v
SiO2/Si(100) Chip NOVA Electric Materials HS39626-OX n/a
h-BN K. Watanabe and Contact the group hexagonal Japanese BN (JBN)
T. Taniguchi Group
Au(111) Agilent Technologies N9805B-FG Au(111) epitaxially grown on mica
Sapphire Precision Ferrites & Ceramic, Inc. Contact vendor P/N Sapphire Chips
0.22 X 0.125 X 0.015"
Ca source Trace Sciences International Corp. AS-3-Ca-5-S n/a
Cu(100) Princeton Scientific Contact vendor Cu(100) single crystal
Methane Praxair, Inc. ME 5.0RS-K Graphene growth precursor gas
Hydrogen Praxair, Inc. HY 6.0RS-K Graphene growth precursor gas

Referências

  1. Novoselov, K. S., et al. Electric field effect in atomically thin carbon films. Science. 306 (5696), 666-669 (2004).
  2. Brar, V. W., et al. Gate-controlled ionization and screening of cobalt adatoms on a graphene surface. Nat. Phys. 7 (1), 43-47 (2011).
  3. Wang, Y., et al. Mapping Dirac quasiparticles near a single Coulomb impurity on graphene. Nat. Phys. 8 (9), 653-657 (2012).
  4. Wang, Y., et al. Observing atomic collapse resonances in artificial nuclei on graphene. Science. 340 (6133), 734-737 (2013).
  5. Riss, A., et al. Imaging and tuning molecular levels at the surface of a gated graphene device. ACS Nano. 8 (6), 5395-5401 (2014).
  6. Chen, J. H., Jang, C., Adam, S., Fuhrer, M. S., Williams, E. D., Ishigami, M. Charged-impurity scattering in graphene. Nat. Phys. 4 (5), 377-381 (2008).
  7. Pi, K., et al. Electronic doping and scattering by transition metals on graphene. Phys. Rev. B. 80 (7), 075406 (2009).
  8. Jang, C., et al. Tuning the effective fine structure constant in graphene: Opposing effects of dielectric screening on short- and long-range potential scattering. Phys. Rev. Lett. 101 (14), 146805 (2008).
  9. McChesney, J. L., et al. Extended van Hove singularity and superconducting instability in doped graphene. Phys. Rev. Lett. 104 (13), 136803 (2010).
  10. Geim, A. K., Novoselov, K. S. The rise of graphene. Nat. Mater. 6 (3), 183-191 (2007).
  11. Wang, F., et al. Gate-variable optical transitions in graphene. Science. 320 (5873), 206-209 (2008).
  12. Lee, C., Wei, X. D., Kysar, J. W., Hone, J. Measurement of the elastic properties and intrinsic strength of monolayer graphene. Science. 321 (5887), 385-388 (2008).
  13. Zhang, Y., et al. Giant phonon-induced conductance in scanning tunneling spectroscopy of gate-tunable graphene. Nat. Phys. 4 (8), 627-630 (2008).
  14. Zhang, Y., Tan, Y. W., Stormer, H. L., Kim, P. Experimental observation of the quantum Hall effect and Berry’s phase in graphene. Nature. 438 (7065), 201-204 (2005).
  15. Novoselov, K. S., et al. Two-dimensional gas of massless Dirac fermions in graphene. Nature. 438 (7065), 197-200 (2005).
  16. Biswas, R. R., Sachdev, S., Son, D. T. Coulomb impurity in graphene. Phys. Rev. B. 76 (20), 205122 (2007).
  17. Novikov, D. S. Elastic scattering theory and transport in graphene. Phys. Rev. B. 76 (24), 245435 (2007).
  18. Pereira, V. M., Nilsson, J., Castro Neto, A. H. Coulomb impurity problem in graphene. Phys. Rev. Lett. 99 (16), 166802 (2007).
  19. Dean, C. R., et al. Boron nitride substrates for high-quality graphene electronics. Nat. Nanotechnol. 5 (10), 722-726 (2010).
  20. Xue, J., et al. Scanning tunnelling microscopy and spectroscopy of ultra-flat graphene on hexagonal boron nitride. Nat. Mater. 10 (4), 282-285 (2011).
  21. Decker, R., et al. Local electronic properties of graphene on a BN substrate via scanning tunneling microscopy. Nano Lett. 11 (6), 2291-2295 (2011).
  22. Yan, Z., et al. Toward the synthesis of wafer-scale single-crystal graphene on copper foils. ACS Nano. 6 (10), 9110-9117 (2012).
  23. Zhang, B., et al. Low-temperature chemical vapor deposition growth of graphene from toluene on electropolished copper foils. ACS Nano. 6 (3), 2471-2476 (2012).
  24. Li, X., et al. Large-area synthesis of high-quality and uniform graphene films on copper foils. Science. 324 (5932), 1312-1314 (2009).
  25. Zhang, Y., Zhang, L., Zhou, C. Review of chemical vapor deposition of graphene and related applications. Acc. Chem. Res. 46 (10), 2329-2339 (2013).
  26. Reina, A., et al. Transferring and identification of single-and few-layer graphene on arbitrary substrates. J. Phys. Chem. C. 112 (46), 17741-17744 (2008).
  27. Suk, J. W., et al. Transfer of CVD-grown monolayer graphene onto arbitrary subsrates. ACS Nano. 5 (9), 6916-6924 (2011).
  28. Regan, W., et al. A direct transfer of layer-area graphene. Appl. Phys. Lett. 96 (11), 113102 (2010).
  29. Ishigami, M., Chen, J. H., Cullen, W. G., Fuhrer, M. S., Williams, E. D. Atomic structure of graphene on SiO2. Nano Lett. 7 (6), 1643-1648 (2007).
  30. Dan, Y., Lu, Y., Kybert, N. J., Luo, Z., Johnson, A. T. C. Intrinsic response of graphene vapor sensors. Nano Lett. 9 (4), 1472-1475 (2009).
  31. Chen, W., Madhavan, V., Jamneala, T., Crommie, M. F. Scanning tunneling microscopy observation of an electronic superlattice at the surface of clean gold. Phys. Rev. Lett. 80 (7), 1469-1472 (1998).
  32. Saito, R., Hofmann, M., Dresselhaus, G., Jorio, A., Dresselhaus, M. S. Raman spectroscopy of graphene and carbon nanotubes. Adv. Phys. 60 (3), 413-550 (2011).
  33. Horcas, I., Fernandez, R., Gomez-Rodriguez, J. M., Colchero, J., Gomez-Herrero, J., Baro, A. M. WSXM: A software for scanning probe microscopy and a tool for nanotechnology. Rev. Sci. Instrum. 78 (1), 013705 (2007).

Play Video

Citar este artigo
Jung, H. S., Tsai, H., Wong, D., Germany, C., Kahn, S., Kim, Y., Aikawa, A. S., Desai, D. K., Rodgers, G. F., Bradley, A. J., Velasco Jr., J., Watanabe, K., Taniguchi, T., Wang, F., Zettl, A., Crommie, M. F. Fabrication of Gate-tunable Graphene Devices for Scanning Tunneling Microscopy Studies with Coulomb Impurities. J. Vis. Exp. (101), e52711, doi:10.3791/52711 (2015).

View Video