ジャーナル
/
生化学
/
Анализ одиночных частиц с высокой разрешающей способностью при электронно-микроскопической микроскопии Изображения с использованием SPHIRE
JoVE Journal
生化学
This content is Free Access.
JoVE Journal 生化学
High-resolution Single Particle Analysis from Electron Cryo-microscopy Images Using SPHIRE
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Анализ одиночных частиц с высокой разрешающей способностью при электронно-микроскопической микроскопии Изображения с использованием SPHIRE

49,814 Views

•

13:28 min

•

May 16, 2017

DOI:

10.3791/55448-v

DOI:
10.3791/55448-v

•

13:28 min
May 16, 2017

•

12 Views
, , , , , , , ,
1Department of Structural Biochemistry,Max Planck Institute of Molecular Physiology, 2生化学・分子生物学科,The University of Texas Medical School at Houston

概要

Automatically generated

В настоящем документе представлен протокол обработки крио-ЭМ изображений с использованием программного комплекса SPHIRE. Настоящий протокол может быть применен практически для всех одномерных ЭМ-проектов, нацеленных на решение задач с атомным разрешением.

Explore More Videos

Single Particle AnalysisElectron Cryo-microscopySPHIREMacromolecular ComplexesHigh-resolution Cryo-EMParticle Box SizeCTF EstimationMotion CorrectionDose-weightedDose-unweightedParticle Picking

Read Article

Cite this Article

Moriya, T., Saur, M., Stabrin, M., Merino, F., Voicu, H., Huang, Z., Penczek, P. A., Raunser, S., Gatsogiannis, C. High-resolution Single Particle Analysis from Electron Cryo-microscopy Images Using SPHIRE. J. Vis. Exp. (123), e55448, doi:10.3791/55448 (2017).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy