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Preparazione del campione per microscopia a forza atomica Virion singola e imaging a fluorescenza a super risoluzione
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January 02, 2014
DOI:
概要
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L'attacco dei virioni a una superficie è un requisito per l'imaging a virione singolo mediante imaging a fluorescenza a super risoluzione o microscopia a forza atomica (AFM). Qui dimostriamo un metodo di preparazione del campione per l'adesione controllata di virioni a superfici di vetro adatte all'uso nell'AFM e nell'imaging a fluorescenza a super risoluzione.
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Hodges, J. A., Saffarian, S. Sample Preparation for Single Virion Atomic Force Microscopy and Super-resolution Fluorescence Imaging. J. Vis. Exp. (83), e51366, doi:10.3791/51366 (2014).
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