Rivista
/
Ingegneria
/
Geniş Bant Uyarılmış Raman Saçılma Mikroskobuna Dayalı Multipleks Kimyasal Görüntüleme
JoVE Journal
Ingegneria
This content is Free Access.
JoVE Journal Ingegneria
Multiplex Chemical Imaging Based on Broadband Stimulated Raman Scattering Microscopy
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Geniş Bant Uyarılmış Raman Saçılma Mikroskobuna Dayalı Multipleks Kimyasal Görüntüleme

3,307 Views

•

09:57 min

•

July 25, 2022

DOI:

10.3791/63709-v

DOI:
10.3791/63709-v

•

09:57 min
July 25, 2022

•

22 Views
, , , , , , , ,
1Dipartimento di Fisica,Politecnico di Milano, 2Institute for Photonics and Nanotechnologies (IFN-CNR)

Summary

Automatically generated

Geniş bant uyarılmış Raman saçılma (SRS) mikroskobu ile kimyasal görüntüler elde etmek için bir protokol sunuyoruz. Diferansiyel çok kanallı kilitleme tespiti ile çalışan bir SRS mikroskobuna dayanan protokol, numune hazırlamayı, SRS cihazının ayarlanmasını ve kimyasal olarak heterojen numunelerin farklı bileşenlerini çözmek için kemometriyi açıklar.

Explore More Videos

Stimulated Raman Scattering MicroscopyBroadbandVibrational SpectrumHyperspectral ImagingLabel-freeNon-invasivePMMA MicrobeadsPolystyrene MicrobeadsDimethyl SulfoxideOlive OilOptical Parametric OscillatorPrism CompressorDispersion Compensation

Read Article

Cite this Article

De la Cadena, A., Vernuccio, F., Talone, B., Bresci, A., Ceconello, C., Das, S., Vanna, R., Cerullo, G., Polli, D. Multiplex Chemical Imaging Based on Broadband Stimulated Raman Scattering Microscopy. J. Vis. Exp. (185), e63709, doi:10.3791/63709 (2022).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy