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Tracciamento della posizione atomica picometro-precisione attraverso la microscopia elettronica
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JoVE Journal Chimica
Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy
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Tracciamento della posizione atomica picometro-precisione attraverso la microscopia elettronica

DOI:
10.3791/62164-v

•

15:04 min

•

July 03, 2021

•

, , ,
1Department of Materials Science & Engineering,The Pennsylvania State University, 2Center for Nanophase Materials Sciences,Oak Ridge National Laboratory

Capitoli

  • 00:00Introduction
  • 01:23Acquiring High-Quality Annular Dark Field (ADF)/ Annular Bright Field (ABF) STEM Images
  • 09:17Physical Information Extraction
  • 12:22Representative Results
  • 14:41Conclusion

Summary

Traduzione automatica

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Questo lavoro presenta un flusso di lavoro per il tracciamento della posizione atomica nell'imaging di microscopia elettronica a trasmissione a risoluzione atomica. Questo flusso di lavoro viene eseguito utilizzando un'app Matlab open source (EASY-STEM).

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Keywords: Atomic Position TrackingElectron MicroscopyAberration CorrectionSTEM ImagingAtomic ResolutionLattice StrainDefectsImage DenoisingDrift CorrectionAtom Column QuantificationOverlapping AtomsMATLAB ApplicationEasySTEM

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