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August 10, 2019
DOI:
10.3791/59480-v
在这里,我们提出了一个协议,有效地结合串行块面和聚焦电束扫描电子显微镜的目标领域。这允许在三维中进行高效的搜索,并在大型视野中定位罕见事件。
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Guérin, C. J., Kremer, A., Borghgraef, P., Lippens, S. Targeted Studies Using Serial Block Face and Focused Ion Beam Scan Electron Microscopy. J. Vis. Exp. (150), e59480, doi:10.3791/59480 (2019).
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