Summary

Determinación de la excitación y el acoplamiento entre emisores de luz y plasmón superficial Polaritons

Published: July 21, 2018
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Summary

Este protocolo describe la instrumentación para determinar la excitación y el acoplamiento entre emisores de luz y Bloch-como plasmón superficial polaritons derivados de matrices periódicas.

Abstract

Hemos desarrollado un método único para medir la excitación y el acoplamiento de las tasas entre los emisores de luz y plasmón superficial polaritons (SPPs) derivados de arreglos periódicos metálicos sin involucrar técnicas de tiempo resuelto. Hemos formulado las tarifas por cantidades que se pueden medir con simples mediciones ópticas. La instrumentación basada en reflectividad resuelto ángulo y polarización y espectroscopia de fotoluminiscencia se describirán en detalle aquí. Nuestro enfoque es intrigante debido a su simplicidad, que requiere óptica de rutina y varias etapas mecánicas y por lo tanto es muy accesible a la mayoría de los laboratorios de investigación.

Introduction

Plasmon superficial mediada por fluorescencia (SPMF) ha recibido mucha atención recientemente1,2,3,4,5,6. Cuando se colocan emisores de luz en las proximidades de un sistema de plasmónica, energía puede transferirse entre los emisores y el plasmón superficial polaritons (SPPs). En general, los campos plasmónica fuertes fuertemente pueden mejorar la excitación de los emisores2. Al mismo tiempo, la tasa de emisión también se incrementa debido a la gran densidad-de-los Estados creados por SPPs, produciendo el conocido efecto de Purcell3. Estos dos procesos trabajan mano en mano en la producción de la SPMF. Como SPMF ha estimulado numerosas aplicaciones en iluminación de estado sólido1,4, recolección de energía5y6de la bio-detección, está actualmente bajo intensa investigación. En particular, el conocimiento de las velocidades de transferencia de energía de las SPPs para los emisores y a la inversa, es decir, la excitación y el acoplamiento de las tasas, es de gran importancia. Sin embargo, los procesos de excitación y emisión generalmente se enredan juntos, aún se carece de estudio sobre este aspecto. Por ejemplo, la mayoría de los estudios sólo determinar el ratio de eficiencia de excitación, que simplemente compara las emisiones con y sin SPPs7. La medida exacta de la tasa de excitación está todavía ausente. Por otra parte, convencional tiempo resuelto habitualmente se utilizan técnicas como espectroscopia de fluorescencia de por vida para el estudio de la dinámica del proceso de emisión, pero no son capaces de separar el tipo de acoplamiento de la tasa de decaimiento total8. Aquí, describimos cómo se puede determinar combinando el modelo de ecuación de velocidad y el modo temporal de juntado teoría9,10. Sorprendentemente, encontramos que la excitación y el acoplamiento de las tasas pueden expresarse en términos de cantidades medibles, que se pueden acceder mediante reflectividad resuelto ángulo y polarización y espectroscopia de fotoluminiscencia. Primero la formulación del esquema y luego describir la instrumentación en detalle. Este enfoque está enteramente basado en el dominio de la frecuencia y no requiere los accesorios tiempo resuelto como láser ultra rápido y tiempo-correlacionada del solo-fotón contadores, que son caros y a veces difícil de aplicar8, 11. anticipamos esta técnica para ser una tecnología que permite determinar la excitación y el acoplamiento entre emisores de luz y cavidades resonantes.

La SPMF en sistemas periódicos se informó aquí. Para un sistema plasmónica periódicos donde se pueden generar como Bloch SPPs, distintos de excitación directa y emisión, que se caracterizan por la excitación eficiencia η y la tasa de emisión espontánea Γr, los emisores pueden ser excitados por SPPs entrantes y decae mediante SPPs salientes. En otras palabras, bajo la excitación de la resonancia, SPPs entrantes se generan para crear fuertes campos plasmónica que energizan los emisores. Una vez que los emisores están emocionados, energía a partir de ellos puede transferirse a SPPs salientes, que posteriormente radiativamente disiparán a campo lejano, dando lugar a emisiones mejoradas. Ellos definen la SPMF. Para simples emisores de dos niveles, la excitación se refiere a la creciente transición de electrones de la tierra a los Estados excitados mientras que la emisión define el decaimiento de los electrones a los Estados de la tierra, acompañados por la emisión del fotón en longitudes de onda definidas por la diferencia de energía entre los Estados excitados y tierra. Las condiciones de excitación y emisión para la SPMF están obligadas a cumplir con la fase conocida coincidencia ecuación para excitar la entrada y salida de SPPs9

Equation 1(1)

donde εuna y εm son las constantes dieléctricas de los dieléctricos y el metal, θ y φ son los ángulos incidentes y azimuthal, P es el período de la matriz, λ es la longitud de onda de excitación o emisión y m y n son enteros especificando el orden de SPPs. Para la excitación, el wavevector de en el plano del haz láser será Bragg dispersado a partido de impulso con las SPPs entrantes y el θ y φ junto definen la configuración especificada del incidente para excitar las SPPs para realzar la absorción electrónica en la la excitación longitud de onda λex. Asimismo, para la emisión, las SPPs salientes será reverso Bragg dispersos para coincidir con la línea de luz y los ángulos representan ahora los canales de emisión posibles en la longitud de onda de emisión λem. Sin embargo, se observa que los emisores pueden acoplar su energía para SPPs multiplicación vectoriales con Equation 2 que tiene la misma magnitud Equation 3 pero direcciones distintas, las SPPs pueden decaimiento a través de la varia combinación de (m, n) a la ecuación siguiente de campo lejano (1).

Utilizando el modelo de ecuación de velocidad y teoría temporal modo juntado (CMT), tenemos encontrar la excitación tasa Γex, es decir, la tasa de transferencia de energía de SPPs para emisores, se puede expresar como9,12,13

Equation 4(2)

donde η es la tasa de excitación directa mencionadas en la ausencia de las SPPs entrantes, Γtot es la tasa de decaimiento total de las SPPs entrantes Equation 5 Γabs y Γrad son la absorción resistiva y tasas de decaimiento radiativo de SPPs, y Equation 6 es la relación de la potencia de la fotoluminiscencia con y sin las SPPs entrantes. Por otro lado, el acoplador tipo Γc, es decir, la tasa de transferencia de energía de emisores para SPPs, puede escribirse como:

Equation 7(3)

donde Γr es la tasa de emisión directa, Equation 8 es la fotoluminiscencia la relación de poder entre el α mediada porth SPP decaimiento y puertos directos y Γradα y Γtot están la tasa de decaimiento radiativo para el puerto deth α y las tasas de decaimiento total. Vamos a ver que mientras que todos los tipos de decaimiento SPP pueden ser medidos por espectroscopia de reflexión, la relación de potencia de emisión puede ser determinada por espectroscopía de fotoluminiscencia. Detalles de las formulaciones pueden encontrarse en la referencia9,10.

Protocol

1. configuración de la litografía de interferencia Nota: Litografía de interferencia se utiliza para fabricar los arreglos periódicos12. La configuración esquemática, como se muestra en la figura 1, se construye como sigue: Enfocar el 325 nm láser de un láser multimodo HeCd un 13 X UV objetivo y pase a través de un agujero de 50 μm base filtro espacial para el modo de limpieza. Coloque dos iris de 2,5 cm de di?…

Representative Results

Se da un ejemplo de una matriz periódica de Au en el recuadro de la figura 4a8. La imagen de vista SEM plano muestra que la muestra es una matriz 2D enrejado cuadrado agujero circular con un período de 510 nm, a una profundidad de agujero de 280 nm y un diámetro de agujero de 140 nm. La asignación de reflectividad p-polarizado, tomada a lo largo de la dirección de Γ-X se muestra en la figura 4a. La l…

Discussion

En este protocolo, hay varios pasos críticos. Estabilidad mecánica, primera es crucial en la preparación de la muestra. La onda generada por la instalación de Lloyd es sensible a la diferencia de fase entre dos vigas de la iluminación. Por lo tanto, las vibraciones durante el tiempo de exposición degradan la uniformidad y la nitidez del borde de la nanohole. Se recomienda operar en un ambiente libre de vibraciones, por ejemplo, una mesa óptica con soportes de aislamiento de vibración. Además, láser de …

Divulgazioni

The authors have nothing to disclose.

Acknowledgements

Esta investigación fue apoyada por la Universidad China de Hong Kong a través de la 4053077 de subvenciones directas y 4441179, grave destinado investigación subvenciones competitivas, 402812 y 14304314 y área de excelencia AoE/P-02/12.

Materials

SU-8 MicroChem SU-8 2000.5
Adhesion solution MicroChem Omnicoat
SU-8 Thinner (Gamma-Butyrolactone) MicroChem SU-8 2000 Thinner
SU-8 Developer MicroChem SU-8 Developer
Spin Coater Chemat Technology KW-4A
HeCd laser KIMMON KOHA CO., LTd IK3552R-G
Shutter Thorlabs SH05
Objective for sample preparation Newport U-13X
Pinhole Newport PNH-50
Iris Newport M-DI47.50
Prism Thorlabs PS611
Rotation stage for sample preparation Newport 481-A
Supttering Deposition System Homemade
Rotation Stage 1 Newport URM80ACC
Rotation Stage 2 Newport RV120PP
Rotation Stage 3 Newport SR50PP
Detection arm Homemade
Quartz lamp Newport 66884
Fiber Bundle Newport 77578
Objective for measurement Newport M-5X & M-60X
Polarizer & Analyzer Thorlabs GT15
Multimode Fiber Thorlabs BFL105LS02
Spectrometer Newport MS260i
CCD Andor DV420-OE
514nm Argon Ion Laser Spectra-Physics 177-G01
633nm HeNe Laser Newport R-32413
CdSeTe quantum dot Thermo Fisher Scientific q21061mp
Polyvinyl alcohol polymer (PVA) SIGMA-ALDRICH 363073
Control program National Instruments LabVIEW

Riferimenti

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  2. Akselrod, G. M., et al. Leveraging Nanocavity Harmonics for Control of Optical Processes in 2D Semiconductors. Nano Letters. 15 (5), 3578-3584 (2015).
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Citazione di questo articolo
Cao, Z., Lin, M., Ong, D. Determination of the Excitation and Coupling Rates Between Light Emitters and Surface Plasmon Polaritons. J. Vis. Exp. (137), e56735, doi:10.3791/56735 (2018).

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