Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy

Leixin Miao; Adrian Chmielewski; Debangshu Mukherjee; Nasim Alem

doi:10.3791/62164

Journal

/

Chimie

/

Seguimiento de posición atómica de precisión picométrica a través de microscopía electrónica

Journal JoVE
Chimie
Author Produced

This content is Free Access.

Journal JoVE Chimie

Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Seguimiento de posición atómica de precisión picométrica a través de microscopía electrónica

5,709 Views

•

15:04 min

•

July 03, 2021

DOI:

10.3791/62164-v

DOI:

10.3791/62164-v

•

15:04 min

July 03, 2021

•

10 Views

Leixin Miao¹, Adrian Chmielewski¹, Debangshu Mukherjee², Nasim Alem¹

¹Department of Materials Science & Engineering,The Pennsylvania State University, ²Center for Nanophase Materials Sciences,Oak Ridge National Laboratory

Summary

Este trabajo presenta un flujo de trabajo para el seguimiento de la posición atómica en imágenes de microscopía electrónica de transmisión de resolución atómica. Este flujo de trabajo se realiza utilizando una aplicación matlab de código abierto (EASY-STEM).

Explore More Videos

Atomic Position Tracking Electron Microscopy Aberration Correction STEM Imaging Atomic Resolution Lattice Strain Defects Image Denoising Drift Correction Atom Column Quantification Overlapping Atoms MATLAB Application EasySTEM

Read Article

Seguimiento de posición atómica de precisión picométrica a través de microscopía electrónica

Summary

Automatically generated

Explore More Videos