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使用混合原子力显微镜扫描电化学显微镜（AFM-SECM）探测纳米材料的表面电化学活性
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Probing Surface Electrochemical Activity of Nanomaterials using a Hybrid Atomic Force Microscope-Scanning Electrochemical Microscope (AFM-SECM)
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使用混合原子力显微镜扫描电化学显微镜（AFM-SECM）探测纳米材料的表面电化学活性

DOI:
10.3791/61111-v

•

08:31 min

•

February 10, 2021

•

, , ,
1Department of Civil and Environmental Engineering,New Jersey Institute of Technology

Chapitres

  • 00:04Introduction
  • 01:17Sample Preparation for AFM-SECM
  • 02:01Setup and Operation of AFM-SECM
  • 06:24Results: Topography and Current Imaging of ONBs and Cu2O NPs by AFM-SECM
  • 07:33Conclusion

Summary

Traduction automatique

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原子力显微镜 （AFM） 与扫描电化学显微镜 （SECM） 相结合，即 AFM-SECM，可用于同时获取纳米级材料表面的高分辨率地形和电化学信息。这些信息对于了解纳米材料、电极和生物材料的局部表面的异质特性（例如反应、缺陷和反应位点）至关重要。

Tags

NanomaterialsAtomic Force MicroscopeScanning Electrochemical MicroscopeAFM-SECMElectrochemical ActivityNanoparticlesNanobubblesSample PreparationRedox MediatorElectrochemical Sample CellESD Protection

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