Waiting
Traitement de la connexion…

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Neuroscience / Оценка синаптических кратности, используя…
JoVE Journal
Neuroscience

Un abonnement à JoVE est nécessaire pour afficher ce contenu. Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.

JoVE Journal Neuroscience
Оценка синаптических кратности, используя поклеточного патч зажим электрофизиологии
 
Click here for the English version

Оценка синаптических кратности, используя поклеточного патч зажим электрофизиологии

Article DOI: 10.3791/59461-v • 10:52 min • April 23rd, 2019
April 23rd, 2019 •
1, 1,2,3
1Neuroscience Program, Schulich School of Medicine and Dentistry, University of Western Ontario, 2Robarts Research Institute, Schulich School of Medicine and Dentistry, University of Western Ontario, 3Department of Physiology and Pharmacology, Schulich School of Medicine and Dentistry, University of Western Ontario

Chapitres

résumé
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Здесь мы представляем протокол для оценки функциональных синаптических кратности, используя патч поклеточного зажим электрофизиологии острого мозга ломтиками.

Tags

Нейробиологии выпуск 146 поклеточного патч зажим электрофизиологии ex vivo синаптической передачи синаптических выгоды кратность паравентрикулярного ядра гипоталамуса АКТГ рилизинг гормон гипоталамус
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter