Journal
/
/
एक्सक्पेंशन-स्कैनिंग हाइपरस्पेक्ट्रल इमेजिंग माइक्रोस्कोपी को कुशलता से फ्लुओरेंस सिग्नलों को भेदभाव करने के लिए
Journal JoVE
Ingénierie
Un abonnement à JoVE est nécessaire pour voir ce contenu.  Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.
Journal JoVE Ingénierie
Excitation-Scanning Hyperspectral Imaging Microscopy to Efficiently Discriminate Fluorescence Signals

एक्सक्पेंशन-स्कैनिंग हाइपरस्पेक्ट्रल इमेजिंग माइक्रोस्कोपी को कुशलता से फ्लुओरेंस सिग्नलों को भेदभाव करने के लिए

7,815 Views

00:07 min

August 22, 2019

DOI:

00:07 min
August 22, 2019

12 Views
, , ,

Read Article