من أجل مراقبة البنية الفائقة للsensilla الحشرات ، تم عرض المسح الضوئي والمجهر الإلكتروني للإرسال (SEM و TEM ، على التوالي) بروتوكول إعداد العينة في الدراسة. تمت إضافة Tween 20 إلى المثبت لتجنب تشوه العينة في SEM. كان المجهر الفلوري مفيدًا لتحسين دقة التقطيع في TEM.
Zhang, Y., Qiao, H., Ren, L., Wang, R., Lu, P. Sample Preparation Method of Scanning and Transmission Electron Microscope for the Appendages of Woodboring Beetle. J. Vis. Exp. (156), e59251, doi:10.3791/59251 (2020).