Journal
/
Ingénierie
/
Karakterisering van Ultra-fijnkorrelige en nanokristallijne materialen met behulp van Transmission Kikuchi Diffraction
Journal JoVE
Ingénierie
This content is Free Access.
Journal JoVE Ingénierie
Characterization of Ultra-fine Grained and Nanocrystalline Materials Using Transmission Kikuchi Diffraction
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Karakterisering van Ultra-fijnkorrelige en nanokristallijne materialen met behulp van Transmission Kikuchi Diffraction

12,965 Views

•

09:13 min

•

April 01, 2017

DOI:

10.3791/55506-v

DOI:
10.3791/55506-v

•

09:13 min
April 01, 2017

•

3 Views
, , ,
1School of Civil Engineering,The University of Sydney, 2Australian Centre for Microscopy and Microanalysis,The University of Sydney, 3Department of Earth and Planetary Sciences,Macquarie University, 4Charles Delaunay Institute, LASMIS, UMR STMR CNRS 6281,University of Technology of Troyes

Summary

Automatically generated

Dit artikel geeft een gedetailleerde werkwijze om de microstructuur van ultrafijne korrel en nanokristallijne materialen met een scanning elektronenmicroscoop uitgerust met een standaard elektronen backscatter diffractie systeem karakteriseren. Metaallegeringen en mineralen presenteren verfijnde microstructuren worden geanalyseerd met deze techniek, die de diversiteit van de toepassingsmogelijkheden.

Explore More Videos

Transmission Kikuchi DiffractionMicrostructureCrystalline MaterialsSubmicron Size GrainsSevere Plastic DeformationScanning Electron MicroscopeEBSD DetectorSample PreparationAccelerating VoltageApertureHigh Current ModeWorking DistanceEBSD SoftwareEBSD Camera

Read Article

Cite this Article

Proust, G., Trimby, P., Piazolo, S., Retraint, D. Characterization of Ultra-fine Grained and Nanocrystalline Materials Using Transmission Kikuchi Diffraction. J. Vis. Exp. (122), e55506, doi:10.3791/55506 (2017).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy