Journal
/
/
Последовательная блочно-лицевая сканирующая электронная микроскопия (SBEM) для исследования дендритных шипов
JoVE Revista
Neurociencias
Author Produced
Se requiere una suscripción a JoVE para ver este contenido.  Inicie sesión o comience su prueba gratuita.
JoVE Revista Neurociencias
Serial Block-Face Scanning Electron Microscopy (SBEM) for the Study of Dendritic Spines

Последовательная блочно-лицевая сканирующая электронная микроскопия (SBEM) для исследования дендритных шипов

DOI:

11:16 min

October 02, 2021

, , ,

Capítulos

  • 00:05Introduction
  • 01:56Sample Contrasting
  • 05:29Dehydration and Resin Embedding
  • 08:02Trimming and Mounting
  • 09:12Serial Block‐Face Scanning Electron Microscopy Imaging
  • 09:47Representative Results: Dendritic Spine Analysis Using Serial Block‐Face Scanning Electron Microscopy
  • 10:35Conclusion

Summary

Traducción Automática

Последовательная блочно-лицевая сканирующая электронная микроскопия (SBEM) применяется для изображения и анализа дендритных шипов в мышином гиппокампе.

Videos relacionados

Read Article