Journal
/
Neurociencias
/
Последовательная блочно-лицевая сканирующая электронная микроскопия (SBEM) для исследования дендритных шипов
JoVE Revista
Neurociencias
Author Produced
Se requiere una suscripción a JoVE para ver este contenido.  Inicie sesión o comience su prueba gratuita.
JoVE Revista Neurociencias
Serial Block-Face Scanning Electron Microscopy (SBEM) for the Study of Dendritic Spines
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Последовательная блочно-лицевая сканирующая электронная микроскопия (SBEM) для исследования дендритных шипов

3,410 Views

•

11:16 min

•

October 02, 2021

DOI:

10.3791/62712-v

DOI:
10.3791/62712-v

•

11:16 min
October 02, 2021

•

18 Views
, , ,
1Laboratory of Imaging Tissue Structure and Function,Nencki Institute of Experimental Biology of Polish Academy of Sciences, 2Laboratory of Molecular Basis of Behavior,Nencki Institute of Experimental Biology of Polish Academy of Sciences

Summary

Automatically generated

Последовательная блочно-лицевая сканирующая электронная микроскопия (SBEM) применяется для изображения и анализа дендритных шипов в мышином гиппокампе.

Explore More Videos

Serial Block-face Scanning Electron MicroscopyDendritic SpinesSynapsesNeuronal PlasticityLearning And MemorySample PreparationHeavy Metal ContrastingElectron MicroscopyHippocampusCA1 Region

Read Article

Cite this Article

Śliwińska, M. A., Cały, A., Szymański, J., Radwańska, K. Serial Block-Face Scanning Electron Microscopy (SBEM) for the Study of Dendritic Spines. J. Vis. Exp. (176), e62712, doi:10.3791/62712 (2021).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy