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Capítulos
- 00:05Introduction
- 00:42Instrument and Blotting Parameter Set-up
- 02:53Crystal Harvest Process
- 04:01Light Microscopy for Sample Density Assessment
- 04:30Scanning Electron Microscopy for Sample Assessment
- 05:38Grid Preparation for the Diffraction Experiments at VMXm
- 06:47Results: Analysis of the Microcrystals on the Grids
- 08:24Conclusion
La relación señal-ruido de los datos es una de las consideraciones más importantes para realizar mediciones de difracción de rayos X a partir de microcristales. La línea de haz VMXm proporciona un entorno de bajo ruido y microhaces para tales experimentos. Aquí, describimos los métodos de preparación de muestras para montar y enfriar microcristales para VMXm y otras líneas de haz de cristalografía macromolecular de microenfoque.
