This content is Free Access.
Capítulos
- 00:05Introduction
- 00:42Instrument and Blotting Parameter Set-up
- 02:53Crystal Harvest Process
- 04:01Light Microscopy for Sample Density Assessment
- 04:30Scanning Electron Microscopy for Sample Assessment
- 05:38Grid Preparation for the Diffraction Experiments at VMXm
- 06:47Results: Analysis of the Microcrystals on the Grids
- 08:24Conclusion
Отношение сигнал/шум данных является одним из наиболее важных соображений при выполнении измерений дифракции рентгеновских лучей из микрокристаллов. Лучевая линия VMXm обеспечивает среду с низким уровнем шума и микролуч для таких экспериментов. Здесь описаны методы пробоподготовки для монтажа и охлаждения микрокристаллов для VMXm и других микрофокусных макромолекулярных кристаллографических лучевых линий.
