Con el fin de observar la ultraestructura de los insectos sensilla, se presentó en el estudio el protocolo de preparación de muestras de escaneo y transmisión electrónica (SEM y TEM, respectivamente). Se añadió Tween 20 en el fijador para evitar la deformación de la muestra en SEM. La microscopía de fluorescencia fue útil para mejorar la precisión del corte en TEM.
Zhang, Y., Qiao, H., Ren, L., Wang, R., Lu, P. Sample Preparation Method of Scanning and Transmission Electron Microscope for the Appendages of Woodboring Beetle. J. Vis. Exp. (156), e59251, doi:10.3791/59251 (2020).