Journal
/
Ingenieurwesen
/
In situ gesloten-cel gasreacties uitvoeren in de transmissie-elektronenmicroscoop
JoVE Journal
Ingenieurwesen
Author Produced
Zum Anzeigen dieser Inhalte ist ein JoVE-Abonnement erforderlich.  Melden Sie sich an oder starten Sie Ihre kostenlose Testversion.
JoVE Journal Ingenieurwesen
Performing In Situ Closed-Cell Gas Reactions in the Transmission Electron Microscope
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

In situ gesloten-cel gasreacties uitvoeren in de transmissie-elektronenmicroscoop

DOI:
10.3791/62174-v

•

14:21 min

•

July 24, 2021

•

, , , , , , ,
1Center for Nanophase Materials Sciences,Oak Ridge National Laboratory, 2Protochips Inc., 3Department of Materials Science & Engineering,University of Michigan, 4Catalytic Carbon Transformation & Scale-up,National Renewable Energy Laboratory, 5Materials Science & Technology Division,Oak Ridge National Laboratory

Kapitel

  • 00:00Introduction
  • 01:40E-chip Preparation
  • 05:10Preparation of the CCGR-TEM Holder
  • 06:23Preparation of Experimental Setup
  • 07:59Residual Gas Analyzer (RGA) System
  • 10:52Running the Reaction
  • 12:46Representative Results
  • 13:29Summary

Summary

Automatische Übersetzung

Automatische Übersetzung

Hier presenteren we een protocol voor het uitvoeren van TEM-gasreactie-experimenten met gesloten cellen in situ, terwijl we verschillende veelgebruikte monstervoorbereidingsmethoden beschrijven.

Tags

Keywords: In SituClosed-cell Gas ReactionCCGRScanning Transmission Electron MicroscopyCatalystsStructural MaterialsCarbon NanotubesReal-time AnalysisElevated TemperatureAtmospheric PressureSample PreparationPowder DepositionColloidal SuspensionE-chipMask

Article

Embed

ZUR WIEDERGABELISTE HINZUFÜGEN

Usage Statistics

Verwandte Videos

check_url/de/62174?article_type=v

Onthulling dynamische processen van de grondstoffen in vloeistoffen met behulp van vloeibare Cell Transmissie Elektronen Microscopie
check_url/de/62174?article_type=v

In Situ Tijdafhankelijk Diëlektrische Breakdown in de Transmission Electron Microscope: een mogelijkheid om het faalmechanisme in Microelectronic Devices Begrijp
check_url/de/62174?article_type=v

Electron Channeling Contrast Imaging voor Rapid III-V hetero karakterisatie
check_url/de/62174?article_type=v

Uitgebreide karakterisatie van Extended Defecten in Semiconductor Materials door een Scanning Electron Microscope
check_url/de/62174?article_type=v

Het bestuderen van dynamische processen van Nano-sized Objecten in Vloeistof met behulp van Scanning Transmission Electron Microscopy
check_url/de/62174?article_type=v

Karakterisering van Ultra-fijnkorrelige en nanokristallijne materialen met behulp van Transmission Kikuchi Diffraction
check_url/de/62174?article_type=v

Een methode voor het verkrijgen van seriële uiterst dunne secties van micro-organismen in transmissie-elektronenmicroscopie
check_url/de/62174?article_type=v

Methoden van Ex Situ en In Situ onderzoeken van structurele transformaties: het geval van kristallisatie van metalen bril
check_url/de/62174?article_type=v

Schaalbare Quantum geïntegreerde schakelingen op supergeleidend tweedimensionaal elektronen Gasplatform
check_url/de/62174?article_type=v

Single-Digit Nanometer Electron-Beam Lithography met aberratie-gecorrigeerde scannen transmissie elektronenmicroscoop

Read Article