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Caracterização de Ultra-grão fino e nanocristalinos Materiais Usando Transmissão Kikuchi Diffraction
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Characterization of Ultra-fine Grained and Nanocrystalline Materials Using Transmission Kikuchi Diffraction

Caracterização de Ultra-grão fino e nanocristalinos Materiais Usando Transmissão Kikuchi Diffraction

DOI:
10.3791/55506-v

•

09:13 min

•

April 01, 2017

•

, , ,
1School of Civil Engineering,The University of Sydney, 2Australian Centre for Microscopy and Microanalysis,The University of Sydney, 3Department of Earth and Planetary Sciences,Macquarie University, 4Charles Delaunay Institute, LASMIS, UMR STMR CNRS 6281,University of Technology of Troyes

Kapitel

  • 00:05Titel
  • 00:46Equipment and Sample Requirements and Experimental Set-up
  • 04:11EBSD Software Parameters for Data Acquisition
  • 06:36Results: Characterization of Ultra-fine Grained and Nanocrystalline Microstructures by Transmission Kikuchi Diffraction
  • 08:33Conclusion

Summary

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Este documento apresenta um método detalhado para caracterizar a microestrutura dos materiais de granulação e nanocristalinos ultra-finas utilizando um microscópio electrónico de varrimento equipado com um sistema de difracção de electrões retroespalhamento padrão. ligas de metais e minerais apresentam microestruturas refinadas são analisados ​​usando esta técnica, mostrando a diversidade das suas possíveis aplicações.

Tags

Keywords: Transmission Kikuchi DiffractionMicrostructureCrystalline MaterialsSubmicron Size GrainsSevere Plastic DeformationScanning Electron MicroscopeEBSD DetectorSample PreparationAccelerating VoltageApertureHigh Current ModeWorking DistanceEBSD SoftwareEBSD Camera

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