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化学
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通过电子引导增强微分析对晶体材料中功能性多裤/点缺陷的定量原子场分析
JoVE 杂志
化学
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JoVE 杂志
化学
Quantitative Atomic-Site Analysis of Functional Dopants/Point Defects in Crystalline Materials by Electron-Channeling-Enhanced Microanalysis
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通过电子引导增强微分析对晶体材料中功能性多裤/点缺陷的定量原子场分析
DOI:
10.3791/62015-v
•
07:24 min
•
May 10, 2021
•
Masahiro Ohtsuka
,
Shunsuke Muto
1
Electron Nanoscopy Division, Advanced Measurement Technology Center, Institute of Materials & Systems for Sustainability
,
Nagoya University
Chapters
00:04
Introduction
00:59
Transmission Electron Microscopy (TEM) Alignment for Beam-Rocking
02:36
Incident Beam Collimation and Pivot Point Setup
03:47
Electron-Channeling Pattern (ECP) Acquisition
04:30
Energy-Dispersive X-Ray Analysis
05:10
Results: Representative ECP and ICP Emission Imaging
06:46
Conclusion
Summary
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利用事件电子束摇动条件下的电子导引现象,可靠地从少数民族物种、光元素、缺氧和其他点/线/平面缺陷中提取信息,为估计杂质的现场占用及其化学状态提供了定量微分析方法的总大纲。
Tags
Quantitative Analysis
Atomic-site
Functional Dopants
Point Defects
Crystalline Materials
Electron-channeling-enhanced Microanalysis
Energy-dispersive X-ray Spectroscopy
Electron Energy-loss Spectroscopy
Lattice Defects
Vacancies
Interstitials
Grain Boundaries
Transmission Electron Microscopy
STEM
Optical Axis Alignment
Beam Rocking
Caustic Spot
Condenser Aperture
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