Journal
/
工程学
/
قياس تقلبات معدل التكرار السريع لبلورات سوليتون في ميكرورسوناتور
JoVE 杂志
工程学
需要订阅 JoVE 才能查看此.  登录或开始免费试用。
JoVE 杂志 工程学
Rapid Repetition Rate Fluctuation Measurement of Soliton Crystals in a Microresonator
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

قياس تقلبات معدل التكرار السريع لبلورات سوليتون في ميكرورسوناتور

DOI:
10.3791/60689-v

•

07:42 min

•

December 15, 2021

•

, , , , , ,
1State Key Laboratory of Transient Optics and Photonics, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics (XIOPM),Chinese Academy of Sciences (CAS), 2University of Chinese Academy of Sciences

Chapters

  • 00:04Introduction
  • 01:09Optical Coupling
  • 02:19Device Packaging
  • 02:56SCs (Soliton Crystals) Generation
  • 04:52Repetition Rate Fluctuation Measurement
  • 06:13Results: Perfect SC and SC with a Single Vacancy
  • 07:03Conclusion

Summary

自动翻译

自动翻译

هنا، نقدم بروتوكول لتوليد بلورات سوليتون في جهاز رنين حلقة صغيرة معبأة الفراشة باستخدام طريقة ضبطها الحرارية. وعلاوة على ذلك، يتم قياس تقلبات معدل التكرار من الكريستال سوليتون مع شاغر واحد باستخدام طريقة تأخر الذاتي heterodyne.

Tags

Soliton CrystalsMicroresonatorRepetition Rate FluctuationPackagingChip-scaleDissipative Kerr SolitonUV AdhesiveThermal Electric CoolerErbium Doped Fiber AmplifierPolarization Control

Article

Embed

添加到播放列表

Usage Statistics

Related Videos

الموجات فوق الصوتية قياس السرعة في المعدن السائل الكهربائي

طرق التجريبية المتقدمة لدرجات الحرارة المنخفضة Magnetotransport قياس المواد الجديدة

أساليب لقياس التوجيه ودوران معدل الجسيمات في الاضطرابات 3D-طباعة

ومنصة مقرها معاوقة عالية الأداء للكشف التبخر تقييم

فخ تحميل البصري للعازل المجهرية الدقيقة في الهواء

قياس الكم التدخل في المصدر السيليكون الدائري الرنان فوتون

طريقة موحدة لقياس كفاءة مجموعة من مسح لعينة من المتفجرات تتبع

قياس الاستقطاب Ferroelectric ضبطها مغناطيسيا بالبلورات السائلة

تطوير الأسلوب للحصول علي تماس الرنانة تجويف الرنين عازله الدراسات الطيفية للورق السليوليك

نفاثات سائلة مبردة لعلم اكتشاف معدل تكرار مرتفع

Read Article