Journal
/
/
Målrettede studier ved hjelp av seriell blokk ansikt og fokusert ion Beam Scan Electron mikroskopi
JoVE 杂志
生物学
This content is Free Access.
JoVE 杂志 生物学
Targeted Studies Using Serial Block Face and Focused Ion Beam Scan Electron Microscopy
DOI:

09:09 min

August 10, 2019

, , ,

Chapters

  • 00:04Title
  • 00:51Sample Fixation and Processing for Electron Microscopy
  • 03:51Prepare Embedded Samples for Imaging
  • 05:03Imaging in the SBF-SEM (Serial Block Face Scanning Electron Microscopy) and Data Processing
  • 06:22Imaging in the FIB-SEM (Focused Ion Beam SEM)
  • 07:49Results: SBF-SEM and FIB-SEM Data
  • 08:46Conclusion

Summary

自动翻译

Her presenterer vi en protokoll for effektivt kombinere seriell blokk ansikt og fokusert ion Beam skanning elektron mikroskopi å målrette et område av interesse. Dette gjør det mulig for effektiv søking, i tre dimensjoner, og finne sjeldne hendelser i et stort synsfelt.

Related Videos

Read Article