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직렬 블록 얼굴 및 집중된 이온 빔 검사 전자 현미경 검사법을 사용하여 표적으로 한 연구 결과
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生物学
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JoVE 杂志 生物学
Targeted Studies Using Serial Block Face and Focused Ion Beam Scan Electron Microscopy
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직렬 블록 얼굴 및 집중된 이온 빔 검사 전자 현미경 검사법을 사용하여 표적으로 한 연구 결과

DOI:
10.3791/59480-v

•

09:09 min

•

August 10, 2019

•

, , ,
1VIB Bio Imaging Core, 2VIB Inflammation Research Center, 3Department of Molecular Biomedical Research,UGent

Chapters

  • 00:04Title
  • 00:51Sample Fixation and Processing for Electron Microscopy
  • 03:51Prepare Embedded Samples for Imaging
  • 05:03Imaging in the SBF-SEM (Serial Block Face Scanning Electron Microscopy) and Data Processing
  • 06:22Imaging in the FIB-SEM (Focused Ion Beam SEM)
  • 07:49Results: SBF-SEM and FIB-SEM Data
  • 08:46Conclusion

Summary

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여기서, 우리는 관심 있는 지역을 표적으로 하기 위하여 직렬 블록 면 및 집중된 이온 광선 주사 전자 현미경 을 능등하게 결합하기 위한 프로토콜을 제시합니다. 이를 통해 3차원으로 효율적으로 검색하고 넓은 시야에서 드문 이벤트를 찾을 수 있습니다.

Tags

Serial Block Face Scanning Electron Microscopy (SBF-SEM)Focused Ion Beam Scanning Electron Microscopy (FIB-SEM)3D UltrastructureArabidopsis ThalianaRoot TipsSample PreparationFixationPost-fixationOsmium TetroxideRuthenium RedThiocarbohydrazide (TCH)DehydrationMicrowavePhosphate Buffer

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