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Chapters
- 00:04Title
- 00:51Sample Fixation and Processing for Electron Microscopy
- 03:51Prepare Embedded Samples for Imaging
- 05:03Imaging in the SBF-SEM (Serial Block Face Scanning Electron Microscopy) and Data Processing
- 06:22Imaging in the FIB-SEM (Focused Ion Beam SEM)
- 07:49Results: SBF-SEM and FIB-SEM Data
- 08:46Conclusion
Hier präsentieren wir ein Protokoll zur effizienten Kombination von serieller Blockfläche und fokussierter Ionenstrahlelektronenmikroskopie für einen Interessenbereich. Dies ermöglicht eine effiziente Suche in drei Dimensionen und das Auffinden seltener Ereignisse in einem großen Sichtfeld.
