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Études ciblées utilisant le visage de bloc en série et la microscopie électronique focalisée de faisceau d'ion
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Targeted Studies Using Serial Block Face and Focused Ion Beam Scan Electron Microscopy
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Études ciblées utilisant le visage de bloc en série et la microscopie électronique focalisée de faisceau d'ion

DOI:
10.3791/59480-v

•

09:09 min

•

August 10, 2019

•

, , ,
1VIB Bio Imaging Core, 2VIB Inflammation Research Center, 3Department of Molecular Biomedical Research,UGent

Chapters

  • 00:04Title
  • 00:51Sample Fixation and Processing for Electron Microscopy
  • 03:51Prepare Embedded Samples for Imaging
  • 05:03Imaging in the SBF-SEM (Serial Block Face Scanning Electron Microscopy) and Data Processing
  • 06:22Imaging in the FIB-SEM (Focused Ion Beam SEM)
  • 07:49Results: SBF-SEM and FIB-SEM Data
  • 08:46Conclusion

Summary

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Ici, nous présentons un protocole pour combiner efficacement la face de bloc de série et la microscopie électronique focalisée de faisceau d'ions pour cibler une zone d'intérêt. Cela permet une recherche efficace, en trois dimensions, et la localisation d'événements rares dans un grand champ de vision.

Tags

Serial Block Face Scanning Electron Microscopy (SBF-SEM)Focused Ion Beam Scanning Electron Microscopy (FIB-SEM)3D UltrastructureArabidopsis ThalianaRoot TipsSample PreparationFixationPost-fixationOsmium TetroxideRuthenium RedThiocarbohydrazide (TCH)DehydrationMicrowavePhosphate Buffer

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