Journal
/
/
Gerichte studies met behulp van seriële blokkering en gerichte ionen straal scan elektronenmicroscopie
JoVE 杂志
生物学
This content is Free Access.
JoVE 杂志 生物学
Targeted Studies Using Serial Block Face and Focused Ion Beam Scan Electron Microscopy
DOI:

09:09 min

August 10, 2019

, , ,

Chapters

  • 00:04Title
  • 00:51Sample Fixation and Processing for Electron Microscopy
  • 03:51Prepare Embedded Samples for Imaging
  • 05:03Imaging in the SBF-SEM (Serial Block Face Scanning Electron Microscopy) and Data Processing
  • 06:22Imaging in the FIB-SEM (Focused Ion Beam SEM)
  • 07:49Results: SBF-SEM and FIB-SEM Data
  • 08:46Conclusion

Summary

自动翻译

Hier presenteren we een protocol voor het efficiënt combineren van seriële Block face en gerichte Ion Beam Scanning elektronenmicroscopie om een interessegebied te targeten. Dit maakt efficiënt zoeken mogelijk, in drie dimensies, en het lokaliseren van zeldzame gebeurtenissen in een groot gezichtsveld.

Related Videos

Read Article