Journal
/
Engineering
/
Plasmonische Trapping en het vrijkomen van nanodeeltjes in een Monitoring Milieu
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Plasmonic Trapping and Release of Nanoparticles in a Monitoring Environment
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Plasmonische Trapping en het vrijkomen van nanodeeltjes in een Monitoring Milieu

Nederlands

Automatically Generated

7,448 Views

•

09:13 min

•

April 04, 2017

DOI:

10.3791/55258-v

DOI:
10.3791/55258-v

•

09:13 min
April 04, 2017

•

1 Views
,
1Division of Scientific Instrumentation,Korea Basic Science Institute (KBSI), 2School of Mechanical Engineering,Gwangju Institute of Science and Technology (GIST)

Summary

Automatically generated

Een microchip fabricageproces dat plasmonische pincet opgenomen wordt hier gepresenteerd. De microchip maakt het afbeelden van een gevangen deeltje trapping maximale krachten meten.

Explore More Videos

Plasmonic NanoholeParticle TrappingParticle Monitoring2D Particle MotionPDMS MicrochannelGold PlatePhotolithographySpin CoatingUV ExposureImmunoassayCell TrappingLiposome AnalysisNanoparticle Drug Release

Read Article

Cite this Article

Kim, J., Lee, Y. Plasmonic Trapping and Release of Nanoparticles in a Monitoring Environment. J. Vis. Exp. (122), e55258, doi:10.3791/55258 (2017).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy