/
/
В Depth Анализы светодиодов с помощью комбинации рентгеновской компьютерной томографии (КТ) и световой микроскопии (LM) коррелируют с сканирующей электронной микроскопии (SEM)
A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.
9,073 Views
•
10:42 min
•
June 16, 2016
DOI:
Summary
Automatically generated
Последовательность действий для комплексной микро-характеристик активных оптических устройств описано. Она содержит структурные, а также функциональные исследования с помощью КТ, LM и SEM. Метод демонстрируется на белый светодиод, который может быть по-прежнему использоваться во время определения характеристик.
Explore More Videos
Read Article
Cite this Article
Meyer, J., Thomas, C., Tappe, F., Ogbazghi, T. In Depth Analyses of LEDs by a Combination of X-ray Computed Tomography (CT) and Light Microscopy (LM) Correlated with Scanning Electron Microscopy (SEM). J. Vis. Exp. (112), e53870, doi:10.3791/53870 (2016).
Copy