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走査型電子顕微鏡(SEM)と相関X線コンピュータ断層撮影(CT)および光学顕微鏡(LM)の組合せによるLEDの深さ分析で
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In Depth Analyses of LEDs by a Combination of X-ray Computed Tomography (CT) and Light Microscopy (LM) Correlated with Scanning Electron Microscopy (SEM)

走査型電子顕微鏡(SEM)と相関X線コンピュータ断層撮影(CT)および光学顕微鏡(LM)の組合せによるLEDの深さ分析で

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10:42 min

June 16, 2016

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10:42 min
June 16, 2016

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光アクティブデバイスの総合的なマイクロ特徴付けのためのワークフローが概説されています。これは、CT、LMおよびSEMによる構造だけでなく、機能的な調査が含まれています。この方法は、まだ特徴付けの時に動作させることが可能白色LEDのために実証されています。

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