Journal
/
Engineering
/
In detail Analyses LEDs door een combinatie van X-ray Computed Tomography (CT) en lichtmicroscopie (LM) gecorreleerd met Scanning Electron Microscopy (SEM)
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
In Depth Analyses of LEDs by a Combination of X-ray Computed Tomography (CT) and Light Microscopy (LM) Correlated with Scanning Electron Microscopy (SEM)
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

In detail Analyses LEDs door een combinatie van X-ray Computed Tomography (CT) en lichtmicroscopie (LM) gecorreleerd met Scanning Electron Microscopy (SEM)

Nederlands

Automatically Generated

9,073 Views

•

10:42 min

•

June 16, 2016

DOI:

10.3791/53870-v

DOI:
10.3791/53870-v

•

10:42 min
June 16, 2016

•

35 Views
, , ,
1Department Lippstadt,Hamm-Lippstadt University of Applied Sciences

Summary

Automatically generated

Een workflow voor een uitgebreide micro-karakterisering van actieve optische apparaten wordt geschetst. Bevat structurele en functionele onderzoeken door middel van CT, LM en SEM. De werkwijze is aangetoond voor een witte LED die nog steeds kan worden gebruikt als er karakterisatie.

Explore More Videos

X-ray Computed Tomography (CT)Light Microscopy (LM)Scanning Electron Microscopy (SEM)Micro-characterizationFailure AnalysisReverse EngineeringMicroelectronic DevicesOptical PropertiesMicrostructureComposite MaterialsAuto-scan OptimizerDetector ShiftSample PreparationEpoxy ResinSilver Wire

Read Article

Cite this Article

Meyer, J., Thomas, C., Tappe, F., Ogbazghi, T. In Depth Analyses of LEDs by a Combination of X-ray Computed Tomography (CT) and Light Microscopy (LM) Correlated with Scanning Electron Microscopy (SEM). J. Vis. Exp. (112), e53870, doi:10.3791/53870 (2016).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy