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January 04, 2016
DOI:
10.3791/53614-v
バルクシリコンの欠陥の再結合活性を調べるRT液体表面パッシベーション技術が記載されています。 1分間15%のフッ酸と、(iii)照明(I)において、化学洗浄及びシリコンのエッチング、シリコンの(ii)の浸漬:技術を成功させるには、3つの重要な手順が必要です。
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Grant, N. E. Light Enhanced Hydrofluoric Acid Passivation: A Sensitive Technique for Detecting Bulk Silicon Defects. J. Vis. Exp. (107), e53614, doi:10.3791/53614 (2016).
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