Journal
/
Engineering
/
אפיון התפלגות גודל ננו באמצעות ראמאן ספקטרוסקופיה עם דגם Phonon מאסר רב-חלקיקים
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Characterization of Nanocrystal Size Distribution using Raman Spectroscopy with a Multi-particle Phonon Confinement Model
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

אפיון התפלגות גודל ננו באמצעות ראמאן ספקטרוסקופיה עם דגם Phonon מאסר רב-חלקיקים

עברית

Automatically Generated

13,288 Views

•

06:54 min

•

August 22, 2015

DOI:

10.3791/53026-v

DOI:
10.3791/53026-v

•

06:54 min
August 22, 2015

•

2 Views
,
1Department of Applied Physics,Eindhoven University of Technology, 2Dutch Institute for Fundamental Energy Research

Summary

Automatically generated

אנו מדגימים כיצד לקבוע את התפלגות הגודל של nanocrystals מוליכים למחצה באופן כמותי באמצעות ספקטרוסקופיית ראמאן העסקת מודל כליאת פונון רב-חלקיקים מוגדרים באופן אנליטי. תוצאות שהתקבלו הן בהסכם מצוין עם טכניקות ניתוח גודל אחרות כמו מיקרוסקופ אלקטרונים הולכה וספקטרוסקופיה photoluminescence.

Explore More Videos

Nanocrystal Size DistributionRaman SpectroscopyMulti-particle Phonon Confinement ModelSemiconductor NanocrystalsSize-dependent Phonon ConfinementNon-destructive Size AnalysisSilicon NanocrystalsTransmission Electron MicroscopyX-ray DiffractionPhotoluminescence Spectroscopy

Read Article

Cite this Article

Doğan, İ., van de Sanden, M. C. M. Characterization of Nanocrystal Size Distribution using Raman Spectroscopy with a Multi-particle Phonon Confinement Model. J. Vis. Exp. (102), e53026, doi:10.3791/53026 (2015).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy