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April 26, 2014
DOI:
10.3791/51133-v
nanodetectionにとって望ましくないレーザジッタノイズを除去するように設計された基準干渉計技術は、超高品質係数マイクロキャビティをプロービングするために利用される。アセンブリ、セットアップ、およびデータ取得のための命令は、キャビティ品質係数を特定するための測定処理と並んで設けられている。
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Vincent, S., Yu, W., Lu, T. Implementation of a Reference Interferometer for Nanodetection. J. Vis. Exp. (86), e51133, doi:10.3791/51133 (2014).
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